Nouvelle solution de propreté Leica : pour une identification rapide des sources de contamination

Pendant l'analyse de la propreté, il n'y a pas de temps à perdre pour trouver la vraie source de contamination. La solution Cleanliness Expert de Leica Microsystems vous offre dorénavant une analyse plus approfondie des particules. Outre la détection, le comptage, l'analyse et la classification automatiques des particules potentiellement capables de causer des dommages, cette solution détermine aussi en parallèle la composition des particules. Vous pouvez désormais gagner jusqu'à 90% de temps lors de la recherche de la source de contamination. Par ailleurs, vous pouvez réaliser l'analyse complète sur un seul poste de travail.

Pourquoi est-ce important ?

En quelques secondes, vous disposez de toutes les informations pertinentes pour trouver la source des particules qui ont un impact sur la performance et la durée de vie de vos produits. Vous pouvez les éliminer rapidement afin de garantir la conformité aux normes VDA 19 et ISO de plus en plus strictes. La localisation plus rapide de la source de particule implique également une analyse de la propreté plus rentable.

Comment est-ce possible ?

Avec la combinaison de la microscopie et de la spectroscopie laser. Un système LIBS (spectroscopie par claquage laser) est intégré dans le microscope DM6 M exécutant le logiciel Cleanliness Expert. Cette solution 2 en 1 vous permet de procéder à la fois à une analyse visuelle et chimique avec un seul appareil.

Par conséquent, vous effectuez votre processus d'analyse de la propreté en une seule étape, et évitez ainsi les analyses en aval coûteuses réalisées avec des méthodes telles que la microscopie électronique (MEB/EDS).

Les avantages offerts par la nouvelle solution de propreté Leica :

  • Trouver la source de contamination plus vite avec l'analyse chimique rapide
  • Conserver toutes les étapes en interne afin de réaliser des économies en termes de temps et d'argent
  • Réduire au maximum ou éliminer les analyses étendues avec les méthodes MEB/EDS:
    - Pas de préparation d'échantillon avec filtre ajouté ni de transfert vers d'autres dispositifs
    - Pas de relocalisation de la région d'intérêt ni de réglage du système

Passez moins de temps et dépensez moins d'énergie pour la réalisation de l'analyse de la propreté. Obtenez davantage d'informations sur notre nouvelle solution Cleanliness Expert avec LIBS 2 en 1 sur Internet. Ou contactez votre représentant local Leica Microsystems pour obtenir plus de détails.

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