Coatings of semi-bright nickel and bright nickel over a copper layer on ABS plastic. Photo: Atotech SpainCoatings of semi-bright nickel and bright nickel over a copper layer on ABS plastic. Photo: Atotech Spain

Preparazione del campione per la scienza dei materiali

Preparare il campione è essenziale per osservare le migliori tessiture e i dettagli sulla superficie del campione in alta risoluzione. Grazie ai giusti strumenti e a un opportuno flusso di lavoro per la pre-preparazione, sarà possibile preparare il campione in modo eccellente, ridurre i tempi di procedura e produrre risultati affidabili e precisi.

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Trattamento superficiale del target: velocizzate la procedura senza rinunciare alla qualità

Per la scienza dei materiali, sulla qualità e la velocità relative alla preparazione del campione non si accettano compromessi, come si potrebbe pensare all'inizio. Come avviene in altre aree nell'ambito della processazione dei materiali, nel passaggio dal lavoro preliminare alla finitura, cambiare gli strumenti in modo appropriato aiuta a velocizzare e controllare meglio la procedura successiva.

Per precisione e prepara target appena visibili facilmente

Il sistema EM TXP di Leica Microsystems è uno strumento dedicato per il trattamento superficiale del target dei campioni prima dell'esame. È la scelta giusta per avvicinarsi all'area di interesse per la preparazione finale. Il sistema EM TXP offre le operazioni di fresatura, taglio, macinatura e levigatura in uno strumento solo. Si distingue con i campioni impegnativi per precisione e prepara target appena visibili facilmente. Lo stereomicroscopio integrato consente la finitura diretta della superficie e l'esame del target.

See how to cut by half the sample preparation time for IC gold wire bonding

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Un lavoro di squadra per un trattamento superficiale di alta qualità

Se necessitate di un trattamento superficiale di alta qualità, utilizzate la fresa a fascio ionico EM TIC 3X dopo il taglio e la levigatura meccanici. Grazie alla pre-processazione, risparmierete molto tempo per la preparazione finale con il fascio ionico. Posizionate la maschera cuneiforme molto vicino all'area del target e utilizzate il processo di fresatura a fascio ionico principalmente per eliminare eventuali artefatti residuali dalle fasi della preparazione meccanica.

La fresa EM TIC 3X consente la produzione di sezioni trasversali e superfici piane per la microscopia elettronica a scansione (SEM), l'analisi microstrutturale (EDS, WDS, Auger, EBSD), l'esame AFM, e l'investigazione con microscopio a luce incidente.

Tecnologia di rivestimento per microscopia elettronica

I materiali campione non conduttivi o a bassa conduttività, come la ceramica o i polimeri, richiedono un rivestimento di carbonio o metallo per i metodi di imaging SEM e TEM. Un sistema di rivestimento di carbonio versatile come EM ACE600 di Leica, fornisce film di supporto in carbonio ultra-sottili per imaging a risoluzione atomica. Un rivestimento conduttivo di spessore uniforme evita l'accumulo di carica sul campione e fornisce forza adeguata per resistere al bombardamento elettronico. Il sistema di rivestimento a vuoto spinto EM ACE600 può essere configurato per: polverizzazione, evaporazione di fibre di carbonio, evaporazione di bastoncini di carbonio, evaporazione da cannone elettronico e scarica a luminescenza.

Un lavoro di squadra per il sezionamento

Se desiderate preparare sezioni con un blocco faccia del campione di forma perfetta con i bordi netti, la pre-processazione con la fresa EM TXP o EM TRIM2 o EM RAPID ha un'influenza considerevole sulla qualità della superficie dei materiali. L'ultramicrotomo Leica EM UC7 consente di preparare facilmente sezioni semi- e ultra-sottili, oltre a campioni con superfici molto regolari per l'analisi TEM, SEM, AFM e LM.

Cutting Aluminium with the EM UC7 Ultramicrotome from Leica

Microscopi per la ricerca Life Sciences

I microscopi per la ricerca Life Sciences di Leica Microsystems supportano le esigenze di imaging della comunità scientifica con la massima capacità innovativa e la competenza tecnica ai fini della visualizzazione, della misurazione e dell’analisi delle microstrutture.

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Scienze della terra e dei materiali

Avete bisogno degli strumenti giusti per un' immagine e un' analisi affidabili e di alta qualità. Leica Microsystems è la fonte unica per tutte le vostre esigenze di ricerca. Oltre al supporto locale esperto, offriamo la più ampia gamma di ottiche, sistemi di imaging, software e accessori ergonomici per progettare un sistema per la vostra applicazione.

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Microscopi per l'industria e la produzione

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Microscopi didattici

I corsi di microscopia sono più piacevoli quando sia gli insegnanti che gli studenti riescono a focalizzare bene l'oggetto della loro analisi. I nostri microscopi didattici aiutano a esprimere tutto il potenziale dei vostri studenti: sono pratici da usare e facili da maneggiare e offrono immagini che mantengono viva l'attenzione degli studenti.

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