Analisi della pulizia con una soluzione di flusso di lavoro 2 in 1

Implementare i requisiti futuri sulla pulizia dei prodotti in modo efficiente - utilizzando il sistema LIBS (Laser Induced Breakdown Spectroscopy)

Leica Microsystems ha mostrato ai partecipanti del 10° congresso specialistico "Technical cleanliness" di Berlino come possono essere preparati alle future esigenze di pulizia dei prodotti e renderli parte della routine. La pulizia tecnica è una caratteristica della qualità e ha un impatto significativo sulla funzione e sulla durabilità di un prodotto. Ciò può essere garantito attraverso l'identificazione affidabile di particelle dure, abrasive e conduttrici.

Trascurare eventuali particelle conduttive e abrasive può costare caro.

L'analisi rapida e affidabile della pulizia dei prodotti nell'industria automobilistica, petrolifera e dei lubrificanti, così come nel settore aerospaziale, è sempre stato un fattore critico per la qualità dei prodotti. Tuttavia, da alcuni anni, la pulizia dei prodotti sta acquisendo sempre più importanza, poiché i componenti e gli assemblaggi diventano sempre più piccoli e le intensità di potenza sempre maggiori. Le particelle conduttrici e abrasive hanno un alto potenziale di causare danni e, in casi estremi, possono provocare guasti e difetti del prodotto, il che può comportare costi significativi per l'azienda. Per evitare questi fattori di costo e per soddisfare le crescenti esigenze esterne e normative, molte aziende si trovano ad affrontare la sfida di inserire un processo di pulizia efficiente nella loro routine quotidiana.

Pulire, estrarre e analizzare in un flusso di lavoro. 

Pall e Leica Microsystems offrono un processo di pulizia interconnesso, che può essere integrato senza difficoltà nel processo di lavoro quotidiano. Le parti del prodotto vengono pulite negli Armadi di Pulizia Pall per estrarre le particelle e quindi vengono analizzate con le Soluzioni di Leica Microsystems. Il risultati forniscono una stima rapida e precisa del potenziale di danno, consentendo di intraprendere le azioni appropriate prima che sia troppo tardi.

Non bisogna sottovalutare il potenziale di danno delle particelle metalliche.

Il potenziale di danno delle particelle metalliche e abrasive è molto più elevato rispetto a quello delle particelle non metalliche o leggere. Le particelle metalliche e abrasive sono dure e danneggiano i sistemi meccanici. I metalli hanno anche diversi livelli di conducibilità e la loro mancata considerazione può portare a gravi difetti del prodotto, come ad esempio un corto circuito nell'elettronica. Una prima opzione per scoprire se abbiamo a che fare con un metallo è il trattamento di lucentezza. Tuttavia, questo procedimento non garantisce che tutte le particelle metalliche siano state identificate e non fornisce alcuna informazione sulla conducibilità del metallo. Per fare luce sulla questione, Leica Microsystems utilizza una combinazione di analisi ottica e chimica, che può essere applicata in modo rapido e semplice e fornisce risultati affidabili.

Limitare il potenziale di danno con l'analisi ottica.

Uno dei metodi più comuni per controllare la pulizia del prodotto è l'analisi ottica. Fornisce un'ampia gamma di risultati, è veloce e facile da usare ed è utilizzato in molti standard - il che significa che è una sorta di gold standard. Ma l'analisi ottica spesso non è abbastanza per stare al passo con i cambiamenti, in quanto non fornisce risultati affidabili per quanto riguarda le proprietà conduttive e/o abrasive. Questi possono essere determinati solo attraverso ulteriori analisi, come i metodi di analisi chimica.

Ottenere risultati rapidi e accurati con il sistema LIBS.

Leica Microsystems offre una ulteriore funzionalità aggiuntiva all'analisi ottica: il cosiddetto sistema LIBS (Laser Induced Breakdown Spectroscopy). Uno strumento di analisi chimica basato sulla tecnologia laser, che fornisce risultati affidabili in pochi secondi. Utilizza il processo standard stabilito per l'analisi ottica - i filtri vengono scansionati automaticamente e vengono determinate le dimensioni, le quantità e le geometrie delle particelle. Poi, ad esempio, diverse classi di particelle possono essere analizzate automaticamente con LIBS, oppure, se necessario, le particelle possono essere ricalcolate individualmente e analizzate. È possibile passare dalla modalità ottica a quella chimica in qualsiasi momento. Ciò significa che il LIBS può essere facilmente integrato nel processo di pulizia. Mentre i sistemi REM/EDX spesso pongono dei requisiti più elevati per l'ambiente, i campioni o l'utente, come la protezione dalle radiazioni, i campioni planari o le conoscenze specialistiche, il sistema LIBS può essere integrato facilmente in laboratorio.  Attraverso la sua interfaccia utente intuitiva e l'elevato grado di automazione, gli utenti sono in grado di effettuare analisi in modo rapido e affidabile.

Integrando il sistema LIBS nel vostro processo di lavoro quotidiano sarete pronti al futuro della pulizia del prodotto.

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