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Leica DCM 3D Industrial & Materials Leica Leica Microsystems

Sistema di metrologia ottica superficiale 3D Leica DCM 3D

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Il sistema Leica DCM 3D con tecnologia dual core è stato progettato per una valutazione rapida e non invasiva di micro- e nanostrutture su superfici tecniche, in molteplici configurazioni.

Il DCM 3D combina la tecnologia confocale e interferometrica per garantire misurazioni ad alta velocità e alta risoluzione fino a 0,1 nm.

Inoltre, la tecnologia confocale micro-display, senza parti in movimento, misura una varietà di materiali e fornisce immagini confocali e a campo chiaro simultaneamente.

Partecipa al nostro Webinar: Applicazioni della microscopia confocale e dell'interferometria per ispezione e metrologia superficiale

Tecnologia confocale e interferometrica per misurazioni ad alta velocità e alta risoluzione.