ライカの新しい清浄度ソリューション:異物混入原因をすばやく解析

異物混入原因の解明のためには、異物の同定(定性)が重要であり、あらゆる分野において異物の分析が行われています。ライカ マイクロシステムズの Cleanliness Expert(コンタミ解析)ソリューションはさらに進化し、残留異物解析が可能になりました。微粒子の検出、計数、分析、異物混入のリスクに基づく分類のほか、同時に粒子の組成を分析することもできます。操作は顕微鏡 1 台で完結、異物混入原因の追求時間を最大 90% 節減できます。

ライカの新ソリューションは、製品の性能や寿命に影響する微粒子(金属)の発生源の分析が、数秒で得られます。発生源をよりすばやく特定し、ますます厳格になる VDA 19 規格や ISO 規格への適合も早まります。微粒子の発生源の探索がより短時間でできるため、より経済性の高い清浄度解析も可能になります。

新しいソリューションでは Cleanliness Expert ソフトウェアを搭載した DM6 M 金属顕微鏡と LIBS(Laser Induced Breakdown Spectroscopy、レーザー誘起ブレークダウン分光法)システムを一体化。この 2-in-1 ソリューションによって、目視検査と化学分析とが 1 つの装置で実行できることになります。

清浄度解析のワークフローが 1 段階に短縮され、従来の電子顕微鏡(SEM/EDS)などの下流分析に比較して、現場にて迅速な検査が可能になります。

新しいライカ清浄度ソリューションの利点:

  • 異物混入原因を光学顕微鏡で検出、その場で高速に化学分析を行います。
  • すべてのステップを顕微鏡下で操作でき、費用と時間を削減します。
  • 従来の SEM/EDS 等による分析を軽減:
    - フィルター試料の追加調製や他の装置への転送の必要もありません。
    - 関心領域を再度探したり、システムのセットアップ等も不要です。

清浄度解析の時間と手間が節減できます。新しい Cleanliness Expert と LIBS の 2-in-1 ソリューションの詳細情報はオンラインでご覧いただけます。またはライカ マイクロシステムズまでお問い合わせください。

Related Images