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Leica EM TIC020 Ion Beam Milling Leica Leica Microsystems

トリプルイオンミリング装置
Leica EM TIC020

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置き換える Leica EM TIC 3X

トリプルイオンビームによる、高速SEM用断面試料作製。
ライカ EM TIC020は、試料の加工位置を直接観察しながらセットし、3本のイオンビームで高速断面加工できるSEM用試料断面イオンミリング装置です。

For research use only
Leica EM TIC020