다층 시료의 검사 – 품질 관리에서의 작업 흐름

통상적인 시료 전처리: 시간 소모와 어려움

산업체의 품질 관리에서 반사식 광학현미경 관찰을 위해서 금속과 플라스틱 부품들에 구리나 니켈 또는 크롬 코팅된 시료를 준비할 때, 시료는 일반적으로 분석될 층이나 표면이 정밀하게 가공될 때까지 여러 과정을 거치게 된다. 일반적으로 시료의 단면은 절단이 되고, 처리되기 위해서 수지에 포매되고 그 다음 각 단일 층의 두께에 대해서 검사하기 그 뒤로 여러 번 연마된다. 이 과정이 마무리 되기 위해서 약 4시간이 걸린다. 선택적으로 시료의 단면은 결함이 있는 영역에서 바로 절단되고 그 다음 여러 차례 연마된다. 이 매우 복잡한 과정이 완료되는 데 하루 종일 걸린다. 통상적인 방법으로 일을 하는 품질관리 실험실은 밀링(milling), 절단(sawing), 절삭(trimming), 갈아내기(grinding), 연마(polishing)를 위해서 다양한 시스템들이 전부 갖춰진 작업대가 필요하다. 시간 소모와 복잡한 절차들 때문에, 한 명의 기술자가 하루에 하나 또는 두 개의 시료를 만드는데 열중하게 될 것이고, 이것은 낮은 생산성으로 이어진다.  

 

하나의 장비에서 4개의 기계 기술을 구성

하나의 장비에서 4개의 기계 기술을 구성하고 있는 Leica EM TXP가 수지에 시료를 사전 포매하지 않고 하나의 시스템에서 절단(cutting)에서부터 밀링(milling)과 연마(polishing)까지 요구되는 기계적인 모든 단계를 완료할 수 있게 해준다. 이것은 작업 흐름과 결과의 품질에 여러 가지 주요 혜택들을 제공한다. 

시료 이동이 없어 시간 절약

시료가 시료 홀더에 죄여 고정되고 TXP의 povot arm에 장착되자마자, TXP에서 시료를 빼내지 않고 밀링(milling), 절단(sawing), 구멍 뚫기(drilling), 절삭(trimmming), 갈아내기(grinding), 연마(polishing)을 할 수 있다. 모든 처리 과정들은 Leica EM TXP에서 연속적으로 수행된다. 시료를 빼내서 다른 기계로 옮기지 않음으로써 사용자가 귀한 시간을 절약하고 시료의 상세함(details)을 잃어버리는 위험을 피하게 된다.

 

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