Leica의 새로운 청정도 솔루션: 신속한 오염원 발견

청정도 분석 중에는 오염원을 발견하는 데 낭비할 시간이 없습니다. 이제 Leica Microsystems의 Cleanliness Expert 솔루션이 더욱 확장된 입자 분석 기능을 제공합니다. 손상 유발 위험 측면에서 입자를 자동으로 발견, 계수, 분석 및 분류할 뿐만 아니라 입자 조성을 동시에 분석합니다. 이제 오염원을 찾는 데 걸리는 시간을 최대 90% 절약할 수 있습니다. 뿐만 아니라, 같은 장소에서 모든 분석을 수행할 수 있습니다.

왜 이것이 중요할까요?

수 초 안에 제품의 성능과 수명에 영향을 미치는 오염원을 찾기 위한 모든 관련 정보를 얻을 수 있습니다. 또한 엄격한 VDA 19 및 ISO 표준을 준수하기 위해 신속하게 오염원을 제거할 수 있습니다. 오염원을 찾는 시간을 줄이면 더욱 비용 효율적인 청정도 분석이 가능합니다.

어떻게 이것이 가능할까요?

현미경과 레이저 분광 기능을 통합하면 가능합니다. LIBS(Laser Induced Breakdown Spectroscopy, 레이저 유도 플라즈마 분광법) 시스템이 Cleanliness Expert 소프트웨어를 실행하는 DM6 M 현미경에 통합되어 있습니다. 이 2-in-1 솔루션을 통해 단일 기기에서 육안 분석과 화학 분석을 동시에 수행할 수 있습니다.
그 결과 청정도 분석 워크플로우를 단일 단계로 축소하고 전자 현미경 검사법(SEM/EDS) 등을 이용한 고비용의 다운스트림 분석을 피할 수 있습니다.

Leica의 새로운 청정도 솔루션의 장점:

  • 신속한 화학 분석을 통해 더욱 빠르게 오염원 식별
  • 모든 단계를 사내에서 처리해 비용 및 시간 절약
  • SEM/EDS를 이용한 확장 분석의 필요성 최소화 또는 제거
    - 시료 전처리를 위해 필터를 추가하거나 다른 기기로 이동 불필요
    - 관심 영역을 이동하거나 시스템 조정 불필요

청정도 분석에 드는 시간과 노력을 절약해 보십시오. 온라인에서 Leica의 새로운 Cleanliness Expert 및 LIBS 2-in-1 솔루션에 대해 자세히 알아보십시오. 또는 Leica Microsystems로 자세한 정보를 문의하십시오.

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