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Leica EM AMW 전자 현미경 검사를 위한 자동 마이크로웨이브 조직 처리 시스템

보관된제품
교체된제품 Leica EM TP
  • Microwave-assisted rapid plant sample preparation for transmission electron microscopy. Journal of Microscopy, Volume 233, Issue 2, pages 258-268, February 2009, B. Zechmann, G. Zellnig, University of Graz, Institute of Plant Sciences, Austria.
    http://www3.interscience.wiley.com/journal/121668747/abstract
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