Preparo de amostras para ciência de materiais
Um preparo de amostras excelente é a chave para observar as texturas mais finas e detalhes na superfície da amostra em alta resolução. O fluxo de trabalho correto e as ferramentas para pré-operação não apenas conduzirão a uma amostra preparada com excelência, mas também reduzirão o tempo de procedimento, agilizarão o fluxo de trabalho e produzirão resultados confiáveis e precisos.
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Identificação da superfície: Resultados mais rápidos, sem perder a qualidade
Na ciência de materiais, muitos acham que é necessário escolher entre qualidade e velocidade quando o assunto é o preparo das amostras. Assim como nas outras áreas do processamento de materiais, a troca de ferramentas adequada ao passar do preparo para o acabamento ajuda a acelerar e controlar melhor o procedimento subsequente.
Facilitando a identificação e o preparo de alvos pouco visíveis
O sistema EM TXP da Leica Microsystems é uma ferramenta dedicada à identificação de superfícies de amostras feita antes ao exame. É a escolha certa para chegar próximo à área de interesse do preparo final. O sistema EM TXP oferece fresagem, serragem, moagem e polimento em um único aparelho. Ele se sobressai com amostras desafiadoras, facilitando a identificação e o preparo de alvos pouco visíveis. O microscópio estéreo integrado permite a finalização da superfície direta e a análise do alvo.
Junte-se à equipe para superfícies de alta qualidade
Se você necessita de superfícies de alta qualidade, use a máquina de fresagem com raios íon EM TIC 3X após o corte mecânico e o polimento. Graças ao pré-processamento, você poupa tempo significante para o preparo final com o raio íon. Posicione a máscara de cunha bem próxima à área do alvo e use o processo de fresagem com raios íon especialmente para livrar-se de quaisquer artefatos residuais dos passos de preparo mecânico.
A máquina de fresagem EM TIC 3X permite a produção de seções transversais e superfícies planas para microscópios de verificação de elétrons (SEM), análise de microestruturas (EDS, WDS, Auger, EBSD), AFM, e investigação de microscópios com lus incidente.
Tecnologia de revestimento para microscopia com elétrons
Amostras com materiais de baixos ou sem condutores, como cerâmica, ou polímeros, exigem revestimento de carbono ou metal para métodos de imagens SEM e TEM. Um revestidor de carbono versátil, como o EM ACE600 da Leica, fornece filmes de suporte de carbono ultrafinos para imagens de resolução atômica. Um revestimento condutivo de espessura uniforme evita o acúmulo de carga na amostra e proporciona força adequada para suportar o bombardeio de elétrons. O revestidor de alto vácuo EM ACE600 pode ser configurado para: pulverização, evaporação com fio de carbono, evaporação com haste de carbono, evaporação por feixe de elétrons e descarga luminescente.
Junte-se à equipe para segmentações
Se você planeja preparar segmentações de amostras perfeitamente formadas em bloco com pontas, o pré-processamento com as fresas EM TXP ou EM TRIM2 ou EM RAPID tem uma influência considerável na qualidade da superfície dos materiais. O ultramicrótomo EM UC7 da Leica fornece preparo fácil de segmentações semi e ultrafinas, bem como amostras com superfícies muito lisas para exames TEM, SEM, AFM e LM.
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