Coatings of semi-bright nickel and bright nickel over a copper layer on ABS plastic. Photo: Atotech SpainCoatings of semi-bright nickel and bright nickel over a copper layer on ABS plastic. Photo: Atotech Spain

Preparo de amostras para ciência de materiais

Um preparo de amostras excelente é a chave para observar as texturas mais finas e detalhes na superfície da amostra em alta resolução. O fluxo de trabalho correto e as ferramentas para pré-operação não apenas conduzirão a uma amostra preparada com excelência, mas também reduzirão o tempo de procedimento, agilizarão o fluxo de trabalho e produzirão resultados confiáveis e precisos.

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Identificação da superfície: Resultados mais rápidos, sem perder a qualidade

Na ciência de materiais, muitos acham que é necessário escolher entre qualidade e velocidade quando o assunto é o preparo das amostras. Assim como nas outras áreas do processamento de materiais, a troca de ferramentas adequada ao passar do preparo para o acabamento ajuda a acelerar e controlar melhor o procedimento subsequente.

Facilitando a identificação e o preparo de alvos pouco visíveis

O sistema EM TXP da Leica Microsystems é uma ferramenta dedicada à identificação de superfícies de amostras feita antes ao exame. É a escolha certa para chegar próximo à área de interesse do preparo final. O sistema EM TXP oferece fresagem, serragem, moagem e polimento em um único aparelho. Ele se sobressai com amostras desafiadoras, facilitando a identificação e o preparo de alvos pouco visíveis. O microscópio estéreo integrado permite a finalização da superfície direta e a análise do alvo.

See how to cut by half the sample preparation time for IC gold wire bonding

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Junte-se à equipe para superfícies de alta qualidade

Se você necessita de superfícies de alta qualidade, use a máquina de fresagem com raios íon EM TIC 3X após o corte mecânico e o polimento. Graças ao pré-processamento, você poupa tempo significante para o preparo final com o raio íon. Posicione a máscara de cunha bem próxima à área do alvo e use o processo de fresagem com raios íon especialmente para livrar-se de quaisquer artefatos residuais dos passos de preparo mecânico.

A máquina de fresagem EM TIC 3X permite a produção de seções transversais e superfícies planas para microscópios de verificação de elétrons (SEM), análise de microestruturas (EDS, WDS, Auger, EBSD), AFM, e investigação de microscópios com lus incidente.

Tecnologia de revestimento para microscopia com elétrons

Amostras com materiais de baixos ou sem condutores, como cerâmica, ou polímeros, exigem revestimento de carbono ou metal para métodos de imagens SEM e TEM. Um revestidor de carbono versátil, como o EM ACE600 da Leica, fornece filmes de suporte de carbono ultrafinos para imagens de resolução atômica. Um revestimento condutivo de espessura uniforme evita o acúmulo de carga na amostra e proporciona força adequada para suportar o bombardeio de elétrons. O revestidor de alto vácuo EM ACE600 pode ser configurado para: pulverização, evaporação com fio de carbono, evaporação com haste de carbono, evaporação por feixe de elétrons e descarga luminescente.

Junte-se à equipe para segmentações

Se você planeja preparar segmentações de amostras perfeitamente formadas em bloco com pontas, o pré-processamento com as fresas EM TXP ou EM TRIM2 ou EM RAPID  tem uma influência considerável na qualidade da superfície dos materiais. O ultramicrótomo EM UC7 da Leica fornece preparo fácil de segmentações semi e ultrafinas, bem como amostras com superfícies muito lisas para exames TEM, SEM, AFM e LM.

Cutting Aluminium with the EM UC7 Ultramicrotome from Leica

Sputter Coater & Freeze Fracture Solutions

Sistemas para revestimento, gravação e fratura

Para permitir e melhorar a obtenção de imagem das amostras no microscópio eletrônico, elas precisam ser condutoras. Uma gama de técnicas de revestimento pode ser aplicada, dependendo da amostra e de sua preparação para a análise. Desde revestimentos de baixo vácuo em temperatura ambiente até revestimentos de alto vácuo em temperatura criogênica, a Leica Microsystems abrange a mais completa gama de requisitos de revestimento.

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 Due to the open chamber design and continuous gas exchange the SampLink chambers keep live cells healthy

Sistemas de preparação criogênica

O congelamento em alta pressão geralmente é o método preferido para a preservação de amostras aquosas em estado próximo ao nativo, pois ele captura as complexas mudanças na estrutura fina ou na dinâmica da célula. A Leica Microsystems combina o congelamento em alta pressão com estímulo por luz: isso permite visualizar processos altamente dinâmicos ou as mudanças estruturais de amostras fotossensíveis em uma resolução nanométrica e com precisão de milissegundos.

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Overview of Drosophila gastric caeca and a mitochondrion with well-defined cristae and well-preserved surrounding membranes. Micrographs courtesy of Dr. Syed (NIH/NIDCR) and Dr. Bleck (NIH/NHLBI)

Ultra-micrótomos e Crio-ultra-micrótomos

Seja uma amostra de tecido, polímero, metal ou nanopartículas, os ultra-micrótomos Leica fornecem seções extremamente finas e com qualidade superficial perfeita em uma ampla gama de aplicações. Desde a ciência dos materiais até a pesquisa do câncer, nossos ultra-micrótomos são utilizados para diversos tipos de pesquisa e controle de qualidade por todo o planeta.

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Sputter Coater & Freeze Fracture Solutions
 Due to the open chamber design and continuous gas exchange the SampLink chambers keep live cells healthy
Overview of Drosophila gastric caeca and a mitochondrion with well-defined cristae and well-preserved surrounding membranes. Micrographs courtesy of Dr. Syed (NIH/NIDCR) and Dr. Bleck (NIH/NHLBI)

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