Revestimentos de níquel semibrilhante e níquel brilhante sobre uma camada de cobre em plástico ABS Revestimentos de níquel semibrilhante e níquel brilhante sobre uma camada de cobre em plástico ABS

Inspeção de revestimentos multicamadas na indústria automotiva

A indústria automotiva atual usa uma grande variedade de tratamentos decorativos e funcionais para melhorar a superfície dos veículos. Os métodos de controle de qualidade tradicionais de inspeção dessas amostras multicamadas eram extremamente lentos, e alguns defeitos podiam passar despercebidos.

Uma nova abordagem, que combina o sistema de superfície alvo e um microscópio ótico, oferece novas possibilidades de velocidade e confiabilidade.

F. Javier Ruiz Balbas, gerente de laboratório da Atotech Espanha, conta sua experiência com o sistema. A Atotech é um dos principais fornecedores mundiais de especialidades químicas, equipamentos, serviços e soluções para placas de circuito impresso, empacotamento avançado e manufatura de semicondutores, bem como acabamentos de superfície decorativos e funcionais.

F. Javier Ruiz Balbas, gerente de laboratório da Atotech Espanha

Poderia descrever brevemente o fluxo de trabalho do seu departamento de controle de qualidade e as tarefas que costuma executar? Que tipos de defeitos são observados? Que tipos de revestimento são analisados?

Ruiz Balbas: O fluxo de trabalho do nosso CQ na Atotech Espanha consiste basicamente em receber partes com um defeito identificado. Esse defeito é submetido a uma sequência de análises por meio da preparação metalográfica - etapas de corte e polimento - para que sejam realizadas inspeções sucessivas. Uma vez concluída a preparação adequada da amostra, damos prosseguimento à sua inspeção por meio de microscopia de luz e microscopia eletrônica de varredura. Nosso trabalho geralmente consiste em análises e medições metalográficas com foco nos defeitos de superfície gerados em depósitos de metal como cobre, níquel, cromo, zinco, ouro etc.

Quais são os principais desafios enfrentados? 

Ruiz Balbas: O principal desafio no nosso fluxo de trabalho é obter o máximo de informação sobre um defeito no menor tempo possível.

Metal de latão revestido em Ni/Ni/Cr. Ni Semibrilhante, Ni Brilhante e camada de Cr por cima. A amostra foi preparada usando o Leica EM TXP. Foto: Atotech Espanha

De que modo as demandas por CQ na indústria automotiva mudaram com o desenvolvimento de novos materiais? 

Ruiz Balbas: Sustentabilidade é algo que não pode faltar em nenhuma área da indústria automotiva. Isso significa que atualmente trabalhamos com produtos Não-CMT (Cancerígenos, Mutagênicos ou Toxicidade Reprodutiva) com propriedades físico-químicas mais elevadas, e promovemos, ao mesmo tempo, a redução do CO2. Em suma, isso levou a Atotech a investir, por mais de dez anos, 10% de nosso faturamento anual em P&D e Ciência de Materiais. Isso nos permite continuar a ser a parceira de tratamento de superfície preferida da indústria automotiva. 

Como o controle de qualidade de sua empresa faz a diferença?

Ruiz Balbas: Fazemos a diferença por meio da nossa vasta experiência de trabalho com técnicas metalográficas. 

Como era o fluxo de trabalho antes de escolherem o sistema Leica EM TXP/DM2700 M? Quais eram os pontos fracos?

Ruiz Balbas: Quando se trabalha com métodos tradicionais de preparação de amostras, é difícil detectar pequenos defeitos e detalhes. Em muitos casos, elementos de operação humana, como a manipulação e preparação da amostra, estão propensos à variação de acabamentos, ou, em alguns casos, à inclinação da amostra durante os processos de esmerilhamento e polimento. Também se faz necessário utilizar materiais de apoio complementares para lidar com as amostras, como o encapsulamento da amostra com resina. 

Com o sistema de revestimento do alvo Leica EM TXP, temos a possibilidade de avançar durante o corte e o polimento do material por meio de uma sequência controlada de etapas. Podemos indicar a quantidade de mícrons que queremos levar adiante em determinado detalhe. As etapas progressivas controladas de corte e polimento podem ser selecionadas com 0,5 mícrons a até 100 mícrons. Antes, não conseguíamos visualizar de forma alguma a aparência da superfície e o nível exato do corte transversal no perfil com defeito. 

Agora, com a implementação do Leica EM TXP/DM2700 M, isso é possível desde o começo do corte transversal, ao longo de sua preparação e até sua conclusão, graças ao estereomicroscópio integrado, que torna possível visualizar a amostra a partir de diferentes ângulos. 

O que pode dizer sobre o Leica EM TXP/DM2700 M após ganhar uma certa experiência com a rotina do dia a dia? Quais os benefícios do sistema que mais ajudam no processo de CQ?

Ruiz Balbas: Ele oferece flexibilidade e permite que se atinjam resultados de alta qualidade em pouco tempo. Ele assegura a consistência e a repetibilidade do método de preparação da amostra, o que leva a uma análise correta da amostra.

 

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