Inspeção de amostras multicamadas - Fluxo de trabalho no controle de qualidade

Preparação de amostras convencional: difícil e demorada

Quando revestimentos de cobre, níquel ou cromo em componentes metálicos e plásticos são preparados para microscopia ótica incidente no controle de qualidade industrial, a amostra é geralmente submetida a múltiplos processos até a camada ou superfície a ser analisada ser usinada com  precisão. Normalmente, uma seção transversal da amostra é cortada, embebida em resina para ser tratada e, em seguida, polida várias vezes para inspeção da espessura de cada camada. Esse processo dura cerca de quatro horas. Como opção, uma seção transversal da amostra é cortada diretamente na área do defeito e, em seguida, polida várias vezes. Esse processo extremamente complicado dura um dia inteiro. Um laboratório de controle de qualidade trabalhando com métodos convencionais precisa de uma bancada totalmente equipada, com vários sistemas para pulverizar, serrar, aparar, moer e polir. Devido ao excesso de tempo necessário e aos complicados procedimentos, um técnico ficará totalmente dedicado a uma ou duas amostras por dia, o que resulta em baixa produtividade.

Unindo quatro tecnologias de máquinas em um único instrumento

Unindo quatro tecnologias de máquinas em um único instrumento, o Leica EM TXP permite concluir todas as etapas de usinagem necessárias, do corte à pulverização e polimento em um único sistema sem pré-embeber a amostra em resina. Isso oferece vários benefícios importantes para o fluxo de trabalho e para a qualidade dos resultados.

Manter a amostra no lugar economiza tempo

Uma vez que a amostra é fixada no seu suporte e inserida no braço articulado, ela pode ser pulverizada, serrada, perfurada, aparada, moída e polida sem ser retirada do Leica EM TXP. Todos os passos são realizados consecutivamente no Leica EM TXP. Sem a necessidade de remover a amostra para outras máquinas, o usuário poupa tempo precioso e evita o risco de perda de dados de amostra.

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