Leica EM RES102 Sistema de fresamento de feixes de íon Preparação de amostra para microscopia eletrônica Produtos Página inicial Leica Microsystems

Leica EM RES102

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Afine, limpe, dê polimento, faça cortes oblíquos e estruture as amostras com o mais alto nível de flexibilidade no Leica EM RES102. O exclusivo sistema de pulverização por feixe de íons combina a preparação de amostras de TEM, SEM e LM em uma única bancada. <nl />

Uma variedade de porta-amostras possibilita a realização de uma ampla diversidade de aplicações. Além da pulverização por feixe de íons de alta energia, o Leica EM RES102 também pode ser usado para o processamento muito delicado de amostras usando baixa energia de íons.<nl />

Para uso exclusivo em pesquisas

For research use only
Sistema de pulverização por feixe de íons Leica EM RES102