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Leica EM TIC020 Ion Beam Milling Leica Microsystems Leica Microsystems

Pulverizador por feixe triplo de íons para preparação de cortes inclinados Leica EM TIC020

Produto arquivado
Substituído por Leica EM TIC 3X

Em agosto de 2011, o novo Leica EM TIC 3X - Sistema de Corte com Três Feixes Iônicos foi lançado e substitui o EM TIC020!

O Sistema de Corte com Três Feixes Iônicos Leica EM TIC020 para preparação de cortes oblíquos possibilita a preparação de áreas específicas da amostra com precisão e eficiência para análises de MEV.

Obtenha seções oblíquas de qualidade a partir de praticamente qualquer material. Os suportes de amostras permitem amostras de até 50x50x10mm. A necessidade de preparação mecânica é mínima. O sistema apresenta três feixes iônicos com três estágios axiais e microscópio para visualização.

For research use only
O sistema de corte com três feixes iônicos Leica TIC020