Leica Microsystems: 显微镜科学与教学知识中心

显微镜科学与教学知识中心

徕卡显微系统的知识库提供有关显微镜学科的科学研究和教学材料。内容旨在对显微镜初学者、有经验的显微镜操作实践者和使用显微镜的科学家在他们的日常工作和实验有所帮助。这里有探索交互式教程和应用笔记，你可以找到你需要的显微镜的基础知识以及前沿技术——快来加入徕卡显微知识社区，分享您的专业知识！

案例介绍：（USB连接器）污染物和底层基材的快速视觉和化学分析

本报告中介绍了一种视觉和化学分析二合一解决方案，可以更高效、更完整地分析材料污染物。除了同步的视觉和化学检测，还可以使用光学显微镜和激光诱导击穿光谱(LIBS)二合一解决方案，快速清除污染物并检测底层基材。

钢材质量评估过程中人工评级非金属夹杂物（NMI）的挑战

快速、精确和可靠的非金属夹杂物（NMI）评级对钢材质量评估具有重要作用。在钢铁生产和组件制造过程中，非金属夹杂物（NMI）人工评级是一种常用的方法.

向全球用户供应单批次钢材组件和产品时，产品需满足多种钢材质量标准。这些用户需求成为了摆在供应商面前的一道难题。由于夹杂物对钢材质量有显著影响，各种标准都对非金属夹杂物评级规定了严格的评级方法。钢材质量评级有助于确保产品和组件满足不同的性能和安全规格要求。然而，由于国际、区域和组织性的标准繁多，而且这些标准还会不断更新变化，因此单批次钢材组件/产品要满足多种钢材质量标准的要求是一项难度不小的挑战。为…

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分析钢铁中的非金属夹杂物

我们常常发现自己陷入了通过标线和比较图进行繁琐的分析，根据多个标准进行耗时的双重评估或来自不同用户的带有偏见的主观检查结果。在本次网络研讨会中，Nicol Ecke 博士将讨论使用 LAS X 钢铁专家自动分析非金属夹杂物的优势。了解这将如何帮助您比以往更快、更轻松地获得您想要的可靠、公正且符合标准的结果。

[Translate to chinese:] Printed Circuit Board (PCB)

进行微观尺度的元素分析

如果您从事电子元件分析工作，您熟悉将会面临的诸多挑战。无论您是识别金属颗粒还是检查产品真伪，快速、轻松地获取正确的信息都很重要。在本次网络研讨会中，Konstantin Kartaschew 博士将解释如何使用化学微量分析仪 LIBS 系统获取有关微结构化学成分组成的信息。

Workflow Solutions for Sample Preparation Methods for Material Science

This brochure presents and explains appropriate workflow solutions for the most frequently required sample preparation methods for material science samples.

评定您的钢材质量：免费在线研讨会及报告

此在线研讨会与报告阐述了钢材质量评定中非金属夹杂物的最佳显微镜解决方案，同时回顾了有关严格质量评估方法的各种国际和地区标准，如EN 10247、ASTM E45、DIN 50602和ISO 4967。优良的钢材质量对于各种行业和应用至关重要，尤其是对于车辆和船舶的制造以及建筑物的建造。可靠、准确的非金属夹杂物评价方法是确定其对钢材质量影响的关键。LAS（徕卡应用程序套件）X Steel…

在微米级别内简化和加速元件分析

学习如何在几秒钟内快速轻松地获得有关元素化学成分的相关信息。

[Translate to chinese:] Extended Depth of Focus (EDOF) images

如何创建EDOF（扩展景深）图像

观看此视频，了解如何使用徕卡显微系统LAS X软件的可选扩展景深（EDOF）功能，快速记录具有较大高度变化样本的清晰光学显微镜图像。以使用徕卡显微镜从低倍到高倍拍摄的电路板EDOF图像为例进行了展示。