재료 및 지구 과학

신뢰 할 수 있는 고품질의 이미징 및 분석을 위해서는 올바른 도구가 필요합니다. 라이카사의 현미경시스템은 귀하의 모든 연구를 해결하기 위한 유일한 해결책입니다. 현지전문가의 지원과 함께 귀하에 적합한 시스템을 설계하기 위해서 가장 광범위한 광학. 이미징 시스템, 소프트웨어 및 인체 공학적 액세서리를 제공할 것입니다.

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    Microscopes for Materials/Industry

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    LAS X Materials Science Modules

    금속 조직 및 재료 분석용 고급 소프트웨어 모듈

    DM6 M LIBS 레이저 유도 플라즈마 분광법

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    육안 및 화학 검사를 위한 재료 분석 솔루션

    Leica EM TIC 3X ‐ Ion Beam Slope Cutter

    Leica EM TIC 3X

    Ion Beam Milling System

    SEM 코팅, EDX/EDS 샘플 분석을 위한 Leica SCD050

    Leica EM ACE600

    TEM 분석과 FE-SEM 분석에 필요한 고해상도를 얻기 위한 사용자의 선택

    EM Sample Preparation Freeze Fracture System Leica EM ACE900

    Leica EM ACE900

    High-End EM Sample Preparation Freeze Fracture System

    Leica DMS300

    제조 검사 및 품질 관리용 디지털 현미경

    Leica EM KMR3

    유리칼 제조기(Glass Knifemaker)

    Digital Microscope System with HDMI Camera Leica DMS1000

    Leica DMS1000

    디지털 정밀 검사, 관찰 및 측정용의 모듈식 디지털 현미경 시스템

    실험실 연구용 디지털 현미경 시스템

    Leica DMS1000 B

    실험실 연구용 디지털 현미경 시스템

    TEM, SEM, LM용 시료 트리밍장치 Leica EM TRIM2

    Leica EM TRIM2

    TEM, SEM, LM용 시료 트리밍장치

    대상물의 표면처리시스템 Leica EM TXP

    Leica EM TXP

    표적물의 표면처리시스템

    상세한 기록, 측정, 평가를 위한 수직 단일 빔 경로(beam path)를 갖춘 수동식 16:1 배율 줌 시스템

    Leica Z16 APO

    상세한 기록, 측정, 평가를 위한 수직 단일 빔 경로(beam path)를 갖춘 수동식 16:1 배율 줌 시스템

    상세한 기록, 측정, 평가를 위한 수직 단일 빔 경로(beam path)를 갖춘 수동식 6:1 배율 줌 시스템 Leica Z6 APO

    Leica Z6 APO

    상세한 기록, 측정, 평가를 위한 수직 단일 빔 경로(beam path)를 갖춘 수동식 6:1 배율 줌 시스템

    큰 표본을 다루는 모듈성의 스탠드 Leica Swingarm Stands

    Leica Swingarm Stands

    큰 표본을 다루는 모듈성의 스탠드

    대형 샘플 검사를 위한 이동식 플로어 스탠드

    Leica F12 I

    대형 샘플 검사를 위한 이동식 플로어 스탠드

    Leica DM750 M

    교육, 금속학 기초, 법의학 교육에 적합한 쌍안 금속현미경

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