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재료 및 지구 과학

신뢰 할 수 있는 고품질의 이미징 및 분석을 위해서는 올바른 도구가 필요합니다. 라이카사의 현미경시스템은 귀하의 모든 연구를 해결하기 위한 유일한 해결책입니다. 현지전문가의 지원과 함께 귀하에 적합한 시스템을 설계하기 위해서 가장 광범위한 광학. 이미징 시스템, 소프트웨어 및 인체 공학적 액세서리를 제공할 것입니다.

Microscopes for Materials/Industry 28

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DM6 M LIBS 레이저 유도 플라즈마 분광법

DM6 M LIBS

육안 및 화학 검사를 위한 재료 분석 솔루션

LAS X Industry

산업용 소프트웨어 플랫폼

LAS X Materials Science Modules

금속 조직 및 재료 분석용 고급 소프트웨어 모듈

Leica EM TIC 3X ‐ Ion Beam Slope Cutter

Leica EM TIC 3X

Ion Beam Milling System

SEM 코팅, EDX/EDS 샘플 분석을 위한 Leica SCD050

Leica EM ACE600

TEM 분석과 FE-SEM 분석에 필요한 고해상도를 얻기 위한 사용자의 선택

EM Sample Preparation Freeze Fracture System Leica EM ACE900

Leica EM ACE900

High-End EM Sample Preparation Freeze Fracture System

Leica DMS300

제조 검사 및 품질 관리용 디지털 현미경

Leica EM KMR3

유리칼 제조기(Glass Knifemaker)

Digital Microscope System with HDMI Camera Leica DMS1000

Leica DMS1000

디지털 정밀 검사, 관찰 및 측정용의 모듈식 디지털 현미경 시스템

정제용 약학 밀링시스템 Leica EM RAPID

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정제용 약학 밀링시스템

실험실 연구용 디지털 현미경 시스템

Leica DMS1000 B

실험실 연구용 디지털 현미경 시스템

TEM, SEM, LM용 시료 트리밍장치 Leica EM TRIM2

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TEM, SEM, LM용 시료 트리밍장치

대상물의 표면처리시스템 Leica EM TXP

Leica EM TXP

표적물의 표면처리시스템

상세한 기록, 측정, 평가를 위한 수직 단일 빔 경로(beam path)를 갖춘 수동식 16:1 배율 줌 시스템

Leica Z16 APO

상세한 기록, 측정, 평가를 위한 수직 단일 빔 경로(beam path)를 갖춘 수동식 16:1 배율 줌 시스템

상세한 기록, 측정, 평가를 위한 수직 단일 빔 경로(beam path)를 갖춘 수동식 6:1 배율 줌 시스템 Leica Z6 APO

Leica Z6 APO

상세한 기록, 측정, 평가를 위한 수직 단일 빔 경로(beam path)를 갖춘 수동식 6:1 배율 줌 시스템

큰 표본을 다루는 모듈성의 스탠드 Leica Swingarm Stands

Leica Swingarm Stands

큰 표본을 다루는 모듈성의 스탠드

대형 샘플 검사를 위한 이동식 플로어 스탠드

Leica F12 I

대형 샘플 검사를 위한 이동식 플로어 스탠드

Leica DM2700M

Leica DM2700 M

범용 LED 조명이 장착된 정립형 재료현미경

Leica DM750 M

교육, 금속학 기초, 법의학 교육에 적합한 쌍안 금속현미경