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전자현미경 관찰을 위한 시료 전처리

탁월한 결과와 놀라운 성과 그리고 획기적인 발견에 이를 때, 그것들 모두가 가지고 있는 공통점 한가지를 찾게 될 것 이다: 그것은 그것들의 정밀하고 세심한 전처리이다. 특히 전자현미경 분야에서, 완벽한 시료 전처리가 전제조건이며 결정적인 단계입니다.

탁월한 결과를 위한 준비!

Leica Microsystems는 생물학, 의학 및 산업용 시료의 전처리를 위한 종합적인 제품 군을 제공합니다.  업무 흐름을 해결해 주는데 집중을 하고 있는 Leica Microsystems는 TEM, SEM 및 AFM 연구에서 정밀한 시료 전처리에 대한 모든 요구 사항에 완벽하게 맞춰진 제품 범위를 제공한다.  모든 Leica 솔루션은 시료를 위한 매끄러운 작업 흐름을 만들어 내기 위해 서로 완벽하게 연동되는 각각의 장비들로 구성되어 있습니다.

완벽한 전처리는 시도와 달성, 실패와 성공, 결과와 우수한 결과들 사이의 차이점을 만듭니다. Leica Microsystems와 함께 탁월한 결과를 위해 준비해 보시기 바랍니다!

전자현미경 시료 전처리 19

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Leica DM6 FS에 기반한 Leica Cryo CLEM 세트

EM Cryo CLEM

CLEM(Correlative Light and Electron Microscopy) 시스템

Vacuum Cryo Transfer System Leica VCT500

Leica EM VCT500

Cryo Transfer System

SEM 코팅, EDX/EDS 샘플 분석을 위한 Leica SCD050

Leica EM ACE600

TEM 분석과 FE-SEM 분석에 필요한 고해상도를 얻기 위한 사용자의 선택

EM Sample Preparation Freeze Fracture System Leica EM ACE900

Leica EM ACE900

High-End EM Sample Preparation Freeze Fracture System

Leica EM FC7

Leica EM UC7, EM UC6용 초저온 챔버

광학 및 전자 현미경용 동결치환 및 저온 포매 시스템 Leica EM AFS2

Leica EM AFS2

광학 및 전자 현미경용 동결치환 및 저온 포매 시스템

자동화된 일상적인 조직처리기 Leica EM TP

Leica EM TP

자동화된 일상적인 조직처리기

극박 절편용 자동 콘트라스팅 기기 Leica EM AC20

Leica EM AC20

극박 절편용 자동 콘트라스팅 기기

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Cross Section Surface

Cross Section Surface, Pre Paid Card RuO4stained, sectioned with diamond knife at room temperature, treated with a special plasma etching device, SEM image.

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