S6 T
Leica Microsystems
S6 T 완전 정전기 분산성의 그리너프 입체현미경
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Lecia S6 T는 6.3:1의 줌 기능이 구현된 정전기를 완전히 분산하는 그리너프 입체현미경으로서 컴퓨터 하드드라이와 같은 ESD에 민감한 전자 구성품에 대한 고품질의 비판 검사(critical inspection)를 행할 수 있습니다.
인간공학적 38° 관측 각도로 편안함을 선사하여 생산성을 높이고 피로 관련 검사 오류를 줄이는 한편 입사 또는 투사 광으로 작업 시 정밀한 배치가 가능합니다.
조절형 줌 스톱은 신속하고 용이하고 반복적인 측정과 검사를 가능케 합니다. 36.5mm에 이르는 넓은 관측 시야와 깊은 피사계심도로 샘플 취급을 줄이고 검사 횟수를 개선합니다.
