Leica EM TIC020 이온 빔 밀링 시스템-Ion Beam Milling 전자현미경 시료 전처리 제품소개 Leica Leica Microsystems

경사절삭 준비를 위한 Triple Ion Beam Miller Leica EM TIC020

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교체된제품 Leica EM TIC 3X