EM RES102
Ion Beam Milling
전자현미경 시료 전처리
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Leica Microsystems
EM RES102
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시료를 Thin, Clean, polish, cut slopes 및 Structure하는데 최적화되어 있으며, 하나의 Bench-top 장비에 TEM, SEM 및 LM 시료 정처리 기능이 결함된 유일한 이온밀링 시스템 입니다.
여러 샘플 홀더를 사용하여 각종 다양한 애플리케이션이 수행 될 수있으며, 고 에너지 뿐만 아니라 낮은 에너지를 이용하여 매우 완만한 시료 전처리에도 사용 할 수 있습니다.
Only research 용
