
Leica DCM8 3D 표면 형상 분석 시스템
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효율성을 극대화하기 위해 설계된 Leica DCM8은 고화질 공초점현미경의 장점과 간섭계(interferometry)를 하나의 다목적 듀얼 코어 시스템으로 통합하였습니다. 원 클릭으로 모드를 선택하고, 정교한 소프트웨어가 장착되어 있으며, 부품의 움직임 없이 HD 공초점 스캐닝이 가능하여 초고석 분석을 보장합니다.
최고의 정확도와 재현성
생산과 연구 분야에서 Leica DCM8은 재료 성능을 최적화하는 과정에서 필요로 하는 정확하고 반복 가능한 측정학적 분석 결과를 제공합니다. 혹시 샘플 표면이 가파른 경사면이나 복잡한 모양으로 되어 있습니까? HD 공초점 현미경은 최대 2 nm의 수직 해상도를 제공합니다. 혹시 샘플 표면이 아주 미세한 굴곡들로만 이루어져 비교적 매끄러운 편입니까? 세 종류의 간섭 모드 -수직 주사 간섭 측정법 (VSI;Vertical Scanning Interferometry), 위상 간섭 측정법 (PSI;Phase Shift Interferometry), 최대 0.1 ㎚ 해상도의 확장 PSI (ePSI;extended PSI) 중 선택하여 확인하실 수 있습니다. 만약 빠르고 정교한 HD 2D 이미지를 원하신다면, Leica DCM8이 제공하는 명시야 및 암시야 모드로 확인하실 수 있습니다.
고화질의 놀라운 이미지 획득
성능이 뛰어난 렌즈와 HD CCD 카메라, 그리고 적색, 녹색, 청색, 백색 LED 광원의 결합으로 Leica DCM8은 놀라운 HD 컬러 이미지를 제공합니다. LED를 순차적으로 누르면 각 픽셀에 실제 색상 정보가 기록되고 이에 따라 해상도와 대비가 증가하여 샘플을 아주 선명하게 시각화합니다.
재현성 높은, 신뢰할 수 있는 결과
견고하고 컴팩트한 센서 헤드에는 부품을 움직이지 않고 구동하는 HD 마이크로 디스플레이 스캐닝 기술과 CCD 카메라, 4개의 LED가 내장되어 있습니다. 이 혁신적인 디자인은 빠르고 재현 가능하며 노이즈가 없는 결과를 보장합니다. 또한 반영구적으로 유지보수가 필요 없는 강한 내구성을 제공합니다.
효율적 결과 분석
Leica DCM8은 LeicaSCAN 소프트웨어로 제어되어 사용이 편리할 뿐만 아니라 단일 operator를 위한 전용 프로그래밍을 할 수 있으며, 멀티 샘플 및 통계 분석 워크 플로우를 최적화할 수 있습니다. 혹시 보다 정교한 3D 측정 작업을 수행해야 하십니까? 그렇다면, 종합 고급 분석 툴이 내장된 Leica Map 소프트웨어가 그 해답입니다. 또한 2D를 주로 측정하시는 경우, 추후 시스템의 측정 기능을 확장할 수 있는 LAS(Leica Application Suite)를 사용하시면 됩니다.
샘플에 최적화된 구성
Leica DCM8은 사용자의 샘플에 맞게 구성할 수 있습니다. 반사 표면을 지닌 샘플뿐만 아니라, 투명한 층 밑의 표면을 측정해야 하거나, 긴 초점 거리를 필요로 하는 샘플까지 – Leica는 여러분이 필요로 하는 프리미엄급 품질의 대물렌즈(objective)를 공급합니다. 큰 샘플의 경우, 조정 가능한 다양한 종류의 경통(column) 및 전동식 재물대(stage) 중에서 선택할 수 있습니다. 또한 본 시스템은 각 샘플에 맞는 파장을 선택할 수 있도록 4가지 다른 색깔의 LED가 장착되어 있습니다.
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