Microscopia correlativa de luz e eletrônica (CLEM)

Imagine que você pode facilmente preencher a lacuna entre a escala micrométrica e nanométrica, ligando informações funcionais e ultraestruturais. Para uma pergunta de pesquisa específica, isso significa empregar diferentes técnicas de preparação de amostras e microscopia para combinar múltiplas modalidades, como a aquisição de imagens de células vivas, congelamento de alta pressão, ultramicrotomia e microscopia eletrônica (criogênica). Uma abordagem CLEM ajuda a preencher essa lacuna.

As soluções CLEM da Leica Microsystems garantem a viabilidade da amostra, verificações de qualidade e um mecanismo de mira 3D preciso e confiável. Os usuários podem aproveitar essas soluções para identificar diretamente a célula certa, no momento certo, obter dados crioconfocais de alta resolução ou colocar as informações de fluorescência no contexto ultraestrutural.