Prepare-se para ótimos resultados!
A Leica Microsystems oferece um portfólio de produtos muito abrangente para a preparação de amostras biológicas, médicas e industriais. Ao nos concentrarmos em soluções de fluxo de trabalho, oferecemos uma gama de produtos perfeitamente alinhada a todas as suas necessidades para preparação precisa da amostra em investigações TEM, SEM e AFM. Cada solução Leica é composta por diversos instrumentos que se encaixam perfeitamente a fim de permitir um perfeito fluxo de trabalho para sua amostra.A perfeita preparação faz a diferença entre tentar e conseguir, entre falhar e ter êxito, entre resultados e resultados excelentes. Portanto, prepare-se para conquistar ótimos resultados com a Leica Microsystems!
Preparação de amostra para microscopia eletrônica
Filter by Area of Application

Leica EM TP
Processador de tecidos com rotina automática

ARTOS 3D
Ultramicrótomo para tomografia computadorizada

Leica EM ICE
Congelamento em alta pressão com simulação luminosa opcional e/ou estimulação elétrica

Leica EM VCT500
Sistema de criotransferência a vácuo

Leica EM TIC 3X
Sistema de fresamento de feixes de íon

Leica EM ACE200
Dispositivo de revestimento a baixo vácuo

Leica EM ACE600
Revestimento a alto vácuo

Leica EM ACE900
Sistema de preparação de amostras de ponta de fratura por congelamento

Leica EM CTD
Fast, Reliable Cryo Tool Drying for Efficient Cryo EM workflow

Leica EM CPD300
Secador de Ponto Crítico Automático

Leica EM UC7
Ultramicrótomo para Perfeito Secionamento em Temperaturas Ambiente e Criogênica

Leica EM KMR3
Dispositivo para Confecção de Navalha de Vidro

Leica EM FC7
Criocâmara para Leica EM UC7 e EM UC6 -

Leica EM AFS2
Sistema de Criossubstituição e Inclusão em Baixa Temperatura em Microscopia Óptica e Eletrônica

Leica EM RAPID
Sistema de Desbaste da Indústria Farmacêutica para Comprimidos

Leica EM TRIM2
Dispositivo para aparamento de espécime para MET, MEV e ML

Leica EM AC20
Instrumento de contraste automático para seções ultrafinas

Leica EM RES102
Sistema de pulverização por feixe de íons

Leica EM TXP
Sistema de Preparação de Superfície de Alvo

Interessado em saber mais?
Fale com nossos especialistas. Ficaremos felizes em responder todas as suas dúvidas e preocupações.
Fale conoscoVocê prefere consultoria pessoal?
-
Leica Microsystems Inc.1700 Leider LaneBuffalo Grove, IL 60089 United StatesTelefone : +1 800 248 0123Telefone de serviço : 1 800 248 0223Fax : +1 847-236-3009
Você encontrará uma lista mais detalhada de todos os contatos aqui.