
Vista de todos os lados
Quando se trata de examinar as menores estruturas em superfícies inclinadas ou verticais da amostra, os microscópios convencionais atingem seus limites. No entanto, para os microscópios digitais Leica, a visualização de áreas da amostra anteriormente inacessíveis não representa um problema. O suporte inclinável extremamente flexível, combinado com a platina x/y giratória, permite inspeção e análise confiáveis de juntas soldadas em componentes eletrônicos, por exemplo.
A função HDR e antiauréola reduz drasticamente os reflexos e o ofuscamento para permitir a documentação detalhada.
A função de visualização em 3D pode ser usada para observar uma imagem tridimensional da amostra. A medição superficial analisa a estrutura da superfície e fornece informações de comprimento, ângulo e altura.