Leica EM RES102
Preparação de TEM ou SEM – uma questão de escolha
Para dar suporte à diversidade de possibilidades de aplicação, o Leica EM RES102 pode ser equipado com uma variedade de porta-amostras para a preparação de amostras para TEM, SEM e LM. O sistema de bloqueio de carga garante alta produtividade de amostras com trocas rápidas de amostras.
SEM
Porta-amostras para limpeza, polimento e otimização do contraste de amostras para SEM e LM em temperatura ambiente ou com resfriamento por LN2. O suporte SEM permite preparar amostras com diâmetro de até 25 mm. Um adaptador é fornecido para fixar pinos de SEM disponíveis comercialmente com um pino de 3,1 mm de diâmetro.
SEM
Suporte do cortador oblíquo para a produção de corte transversal (90°) e secções angulares (35°) para investigação em microscopia eletrônica de varredura de amostras com estruturas verticais. Os espécimes podem ser preparados em temperatura ambiente ou com resfriamento por LN2.
SEM
Suporte de fixação de SEM para conter amostras pequenas com dimensões máximas de 5 (A) x 7 (L) x 2 (P) mm. Esse suporte pode ser facilmente transferido diretamente para o SEM sem remoção da amostra.
TEM
Porta-amostras (fixação rápida) para pulverização simples e dupla face em ângulo pequeno de até 4°.
TEM
Suporte de resfriamento para a preparação de amostras sensíveis à temperatura em combinação com o dispositivo de resfriamento por LN2.
FIB
Suporte de limpeza usado para reduzir a camada amorfizada de amostras de FIB.