Leica EM RES102 Sistema de fresamento de feixes de íon Preparação de amostra para microscopia eletrônica Produtos Início Leica Leica Microsystems

Preparação de TEM ou SEM – uma questão de escolha

Para dar suporte à diversidade de possibilidades de aplicação, o Leica EM RES102 pode ser equipado com uma variedade de porta-amostras para a preparação de amostras para TEM, SEM e LM. O sistema de bloqueio de carga garante alta produtividade de amostras com trocas rápidas de amostras.

SEM

SEM

Porta-amostras para limpeza, polimento e otimização do contraste de amostras para SEM e LM em temperatura ambiente ou com resfriamento por LN2. O suporte SEM permite preparar amostras com diâmetro de até 25 mm. Um adaptador é fornecido para fixar pinos de SEM disponíveis comercialmente com um pino de 3,1 mm de diâmetro.

SEM

SEM

Suporte do cortador oblíquo para a produção de corte transversal (90°) e secções angulares (35°) para investigação em microscopia eletrônica de varredura de amostras com estruturas verticais. Os espécimes podem ser preparados em temperatura ambiente ou com resfriamento por LN2.

SEM

SEM

Suporte de fixação de SEM para conter amostras pequenas com dimensões máximas de 5 (A) x 7 (L) x 2 (P) mm. Esse suporte pode ser facilmente transferido diretamente para o SEM sem remoção da amostra.

TEM

TEM

Porta-amostras (fixação rápida) para pulverização simples e dupla face em ângulo pequeno de até 4°.

TEM

TEM

Suporte de resfriamento para a preparação de amostras sensíveis à temperatura em combinação com o dispositivo de resfriamento por LN2.

FIB

FIB

Suporte de limpeza usado para reduzir a camada amorfizada de amostras de FIB.