EM RES102
Sistema de fresamento de feixes de íon
Preparação de amostra para microscopia eletrônica
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Leica Microsystems
EM RES102
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Afine, limpe, dê polimento, faça cortes oblíquos e estruture as amostras com o mais alto nível de flexibilidade no Leica EM RES102. O exclusivo sistema de pulverização por feixe de íons combina a preparação de amostras de TEM, SEM e LM em uma única bancada. <nl />
Uma variedade de porta-amostras possibilita a realização de uma ampla diversidade de aplicações. Além da pulverização por feixe de íons de alta energia, o Leica EM RES102 também pode ser usado para o processamento muito delicado de amostras usando baixa energia de íons.<nl />
Para uso exclusivo em pesquisas
For research use only
