Leica EM RES102
Sistema de fresamento de feixes de íon
Preparação de amostra para microscopia eletrônica
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Leica Microsystems
Leica EM RES102
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SEM
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SEM
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SEM
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TEM
Porta-amostras (fixação rápida) para pulverização simples e dupla face em ângulo pequeno de até 4°.