Leica EM RES102
Sistema de fresamento de feixes de íon
Preparação de amostra para microscopia eletrônica
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Leica Microsystems
Leica EM RES102
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SEM
Porta-amostras para limpeza, polimento e otimização do contraste de amostras para SEM e LM em temperatura ambiente ou com resfriamento por LN2. O suporte SEM permite preparar amostras com diâmetro de…
SEM
Suporte do cortador oblíquo para a produção de corte transversal (90°) e secções angulares (35°) para investigação em microscopia eletrônica de varredura de amostras com estruturas verticais. Os…
SEM
Suporte de fixação de SEM para conter amostras pequenas com dimensões máximas de 5 (A) x 7 (L) x 2 (P) mm. Esse suporte pode ser facilmente transferido diretamente para o SEM sem remoção da amostra.
TEM
Porta-amostras (fixação rápida) para pulverização simples e dupla face em ângulo pequeno de até 4°.
TEM
Suporte de resfriamento para a preparação de amostras sensíveis à temperatura em combinação com o dispositivo de resfriamento por LN2.
FIB
Suporte de limpeza usado para reduzir a camada amorfizada de amostras de FIB.