EM TIC 3X Sistema de fresagem por feixe de íons configurável
Crie superfícies de fresagem de alta qualidade usando três feixes amplos, revelando verdadeiras estruturas de amostras para análise de microscopia eletrônica posterior. Adaptável e flexível, o EM TIC 3X é compatível com uma ampla gama de experimentos com etapas facilmente intercambiáveis e compatibilidade com suportes de amostras.
Superfícies impecáveis permitem que os usuários obtenham resultados relevantes
Prepare superfícies de alta qualidade de vários tipos de amostras, sejam elas duras, macias, frágeis, heterogêneas ou sensíveis ao calor. O EM TIC 3X ajuda a revelar as estruturas internas da amostra, produzindo uma qualidade de superfície impecável.
- Crie superfícies de fresagem de alta qualidade usando três feixes largos, sem a necessidade de rotação de platina.
- Obtenha a maior área de seção transversal para obter o maior rendimento de análises.
- Escolha entre cinco platinas e vários suportes de amostras.
Prepare facilmente estruturas embutidas
Nunca perca sua estrutura alvo, mesmo que seja uma característica embutida. Alinhe com precisão a amostra com a máscara e as pistolas de íons usando um microscópio estéreo. Observe e documente todo o processo.
Prepare amostras de folhas com eficiência
Prepare seções transversais de camadas simples ou múltiplas de folhas com o mínimo de redeposição ou delaminação. Faça a fresagem com sucesso de uma variedade de tipos de folhas para eliminar os artefatos da preparação mecânica e permitir a análise SEM de alta resolução dos componentes da bateria.
Basta levar sua amostra pelo fluxo de trabalho
Aumente a eficiência e reduza as etapas de manuseio com a compatibilidade do suporte de amostras. Use o mesmo suporte para o EM TXP e o EM TIC 3X para todo o fluxo de trabalho de preparação de superfície. Manter a montagem e a orientação consistentes da amostra durante todo o processo de preparação diminui o risco de danos e desalinhamento da amostra.
Possibilite uma nova gama de experimentos conforme necessário
Obtenha uma nova etapa para expandir sua gama de experimentos, sem a necessidade de suporte de serviço ou tempo de inatividade do instrumento, mesmo para platinas criogênicas.
- Platina padrão
- Platina de amostras múltiplas
- Platina rotativa
- Platina de resfriamento
- Estação de ancoramento para transferência criogênica a vácuo
O EM TIC 3X é compatível com outros instrumentos da Leica, incluindo o EM VCT500 e o EM ACE600.
Resultados reprodutíveis
O sistema de fresamento de feixes de triplo íon (Triple Ion Beam Milling System), Leica EM TIC 3X permite a produção de cortes transversais e planos para Scanning Electron Microscopy (microscopia de elétrons de varredura) (SEM), Microstructure Analysis (análise de microestrutura; EDS, WDS, Auger, EBSD) e investigações AFM. Com o Leica EM TIX 3X você obtém superfícies de alta qualidade em quase todos os materiais a temperatura ambiente ou crio, revelando as estruturas internas da amostra em um estado mais próximo possível do nativo.
Maior conveniência!
Eficiência
O que realmente conta com relação à eficiência de um fresador de feixe de íons são os resultados de excelente qualidade, com alta taxa de transferência. Não é suficiente a possibilidade de aumentar a taxa de fresamento a um fator de 2 em comparação com a versão anterior, mas o exclusivo sistema de feixe de íons triplos otimiza a qualidade do preparo e reduz o tempo de trabalho. Até três amostras podem ser processadas em uma sessão. O corte transversal e polimento pode ser realizado por uma fase. As soluções de fluxo de trabalho fornecem transferência segura e eficiente de amostras para instrumentos de preparação ou sistemas de análise subsequentes.
Sistema flexível - Adaptável às suas necessidades a qualquer momento
A escolha flexível dos estágios torna o Leica EM TIC 3X um instrumento perfeito não apenas para laboratórios de alto rendimento, mas também para laboratórios de contrato. Dependendo da sua necessidade, o Leica EM TIC 3X pode ser configurado individualmente, utilizando os estágios intercambiáveis
- Estágio padrão
- Estágio de amostras múltiplas
- Estágio rotativo
- Estágio de arrefecimento
- Estação de ancoragem de transferência crio a vácuo
para aplicações de preparação padrão, processamento de alto rendimento, bem como para a preparação de amostras extremamente sensíveis ao calor, tais como polímeros, borrachas ou materiais biológicos a baixas temperaturas.
Solução de fluxo de trabalho padrão - Criar sinergias com o Leica EM TXP
Antes da utilização do Leica EM TIC 3X, a preparação mecânica é necessária com frequência para chegar o mais próximo possível da área de interesse. O Leica EM TXP é um exclusivo sistema de superfície desenvolvido para o corte e polimento de amostras antes de técnicas de acompanhamento, com instrumentos como o Leica EM TIC 3X. O Leica EM TXP é especialmente desenvolvido para o pré-preparo de amostras através da serragem, moagem, trituração e polimento. Ele se destaca com os espécimes mais complicados, facilitando a identificação e preparo de alvos difíceis.
Solução de fluxo de trabalho ambientalmente controlada
O pórtico de ancoragem VCT em conjunto com o EM TIC 3X oferece o fluxo de trabalho perfeito para revestimento de amostras criogênicas e/ou sensíveis ao ambiente que podem ser
- materiais biológicos,
- geológicos
- ou industriais.
Podem ser posteriormente transferidos para nossos sistemas de revestimento EM ACE600 ou EM ACE900 e/ou sistemas SEM sob condições de gás inerte/vácuo/crio.
