EM TIC 3X Sistema de fresagem por feixe de íons configurável

A fresagem por feixe de íons é uma técnica de preparação de amostras que utiliza íons de argônio de alta energia para remover material da superfície de uma amostra. O EM TIC 3X usa um sistema de feixe triplo de íons triplo e amplo para criar superfícies de alta qualidade para SEM, EBSD e outras técnicas de microscopia.

O EM TIC 3X oferece superfícies livres de artefatos, essenciais para a geração de imagens de SEM de alta resolução. O design de feixe triplo de íons garante fresagem uniforme e danos mínimos à amostra, tornando-o ideal para ciências dos materiais e análise de falhas.

O sistema é adequado para uma ampla variedade de materiais, incluindo metais, cerâmicas, polímeros, compostos e amostras biológicas. Ele lida com materiais duros e macios com alta precisão.

A configuração de feixe triplo permite a fresagem simultânea de três ângulos, reduzindo a redeposição, as estrias e melhorando a planicidade da superfície. Isso resulta em uma qualidade de imagem superior e em resultados analíticos mais precisos.

Sim, o sistema aceita platinas de transferência a vácuo e crio, permitindo a preparação de amostras sensíveis à temperatura ou ao ar sem exposição ao ar ou alterações estruturais relacionadas à temperatura.

Ele pode processar amostras de até 25 x 20 x 5 mm (espessura), o que o torna versátil para várias aplicações industriais e de pesquisa.

Sim, ele se integra perfeitamente ao EM TXP para pré-preparação mecânica, permitindo um fluxo de trabalho completo, desde o corte e o polimento até o fresamento iônico final. Além disso, é compatível com o sistema de transferência EM VCT500 e com o revestidor EM ACE600, proporcionando um fluxo de trabalho completo e otimizado para a preparação de superfícies.

A fresagem por feixe de íons proporciona superfícies mais limpas e uniformes com menos artefatos. É especialmente benéfica para materiais delicados ou heterogêneos em que os métodos mecânicos podem causar danos.

A fresagem de íons é um processo de gravação física usado para remover material de uma superfície de amostra usando um feixe focalizado de íons, normalmente argônio. É usada principalmente na microscopia eletrônica para preparar superfícies ou seções transversais ultralisas e sem artefatos para imagens de alta resolução e análises.

Vantagens:

• Produz superfícies limpas e sem danos
• Adequada para materiais duros, macios e heterogêneos
• Ideal para alisar e polir seções transversais criadas por métodos mecânicos (por exemplo, com o EM TXP)
• Método sem contato, reduzindo o estresse mecânico

Limitações:

• Mais lenta do que os métodos mecânicos para remoção de massa
• O equipamento pode ser caro e requer sistemas de vácuo
• Não é ideal para remoção de material em larga escala

A fresagem por feixe de íons funciona por meio da aceleração de íons (geralmente argônio) em direção a uma superfície de amostra no vácuo. A energia cinética dos íons remove fisicamente os átomos da superfície, permitindo a remoção controlada do material. Esse processo é altamente direcionado e preciso, o que o torna ideal para a análise microestrutural.