EM TIC 3X Sistema de fresagem por feixe de íons configurável

A platina rotativa (adaptável) foi especialmente projetada para fresagem de grandes áreas (fresagem plana). A área preparada pelo feixe de íons é superior a Ø 25 mm. Baixe o folheto da platina rotativa

Platina padrão para aplicações de rotina e aprimoramento do contraste da superfície preparada.

A platina de amostras múltiplas é usada se for desejado um alto rendimento. Três amostras podem ser carregadas e processadas automaticamente no Leica EM TIC 3X em uma sessão (por exemplo, durante a noite) sem qualquer interação do usuário.

A platina de resfriamento oferece processamento em temperaturas muito baixas. Com temperaturas do suporte de amostras e da máscara de até -160 °C, amostras extremamente sensíveis ao calor, como borracha, fibras de polímeros solúveis em água ou até marshmallows (se desejado), podem ser processadas…

Perfeita para a superfície de amostras ambientalmente sensíveis que podem ser posteriormente transferidas para sistemas de revestimento e/ou SEM sob condições de gás inerte/vácuo

Vários suportes para quase todos os tamanhos de amostra e uma ampla variedade de uso estão disponíveis, por exemplo, um suporte de amostra para o processo completo, desde a pré-preparação mecânica (Leica EM TXP) até o corte inclinado por feixe de íons (Leica EM TIC 3X) e a investigação por SEM até o…

Suportes de amostras de até 12 mm de altura, bem como adaptadores para stubs de SEM disponíveis comercialmente.

Vários suportes estão disponíveis para amostras congeladas em alta pressão. Imagem do lado esquerdo - Suporte de amostras Cryo Imagem do lado direito - Suporte de amostras Cryo para amostras de até 10 x 7 x 4 mm

Cortador de feixe triplo de íons

Processamento de uma amostra de xisto betuminoso de 25 mm de diâmetro