Leica EM TIC020 Pulverizador por feixe triplo de íons para preparação de cortes inclinados
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Leica EM TIC020
Sistema de fresamento de feixes de íon
Preparação de amostra para microscopia eletrônica
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Leica Microsystems
Leica EM TIC020 Pulverizador por feixe triplo de íons para preparação de cortes inclinados
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Substituído por
Leica EM TIC 3X
Em agosto de 2011, o novo Leica EM TIC 3X - Sistema de Corte com Três Feixes Iônicos foi lançado e substitui o EM TIC020!
O Sistema de Corte com Três Feixes Iônicos Leica EM TIC020 para preparação de cortes oblíquos possibilita a preparação de áreas específicas da amostra com precisão e eficiência para análises de MEV.
Obtenha seções oblíquas de qualidade a partir de praticamente qualquer material. Os suportes de amostras permitem amostras de até 50x50x10mm. A necessidade de preparação mecânica é mínima. O sistema apresenta três feixes iônicos com três estágios axiais e microscópio para visualização.
For research use only
