EM TXP Dispositivo para corte transversal
O EM TXP é um dispositivo mecânico para corte transversal que reduz o tamanho das amostras com precisão para inspeção visual. Com o EM TXP, é possível otimizar a pré-preparação da amostra para minimizar o tempo de fresagem por feixe de íons e garantir a criação de superfícies espelhadas para a inspeção por microscopia óptica.
Estruturas embutidas preparadas para fresagem por feixe de íons amplo
Os recursos multiferramentas oferecem o acessório ideal para cada etapa do processo, focalizando a área de interesse com precisão e posicionando com exatidão o ângulo de inclinação e a rotação da ferramenta. O pré-corte preciso revela estruturas embutidas na amostra e reduz o tempo de fresagem por feixe de íons ao remover material indesejado.
A morfologia da dentina do Microraptor (c,d). As setas pretas indicam os processos dos odontoblastos (identificados como "odp") expostos em corte transversal. Adaptado de Wang Yan et al., "Comparative microstructural study on the teeth of Mesozoic birds and non-avian dinosaurs", R. Soc. Open Sci.10230147, doi.org/10.1098/rsos.230147; creativecommons.org/licenses/by/4.0/
Superfície de corte transversal finamente polida.
- Prepare superfícies que atendam às suas necessidades de precisão para inspeção por microscopia óptica.
- Realize o polimento preciso da superfície do corte transversal para inspeção visual.
- Revele a estrutura da amostra com segurança sob observação em microscópio estereoscópico.
Polimento de amostras no EM TXP Créditos: imagens, Kurt Fuchs Photo Design. Fotografias tiradas pela equipe do grupo de pesquisa Christiansen no laboratório de referência da Leica Microsystems nas instalações do INAM/IKTS em Forchheim, Alemanha
Basta processar sua amostra seguindo o fluxo de trabalho.
Aumente a eficiência e reduza as etapas de manuseio com suportes de amostras compatíveis. Use o mesmo porta-amostras para o EM TXP e o EM TIC 3X durante todo o fluxo de preparação da superfície. Manter a montagem e a orientação consistentes da amostra ao longo de todo o processo de preparação reduz o risco de danos e desalinhamento da amostra.
