EM TXP
Sistema de fresamento de feixes de íon
Preparação de amostra para microscopia eletrônica
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Leica Microsystems
EM TXP Sistema de preparação da superfície alvo
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High-Quality EBSD Sample Preparation
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Cross Section Ion Beam Milling of Battery Components
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Fabricação de baterias
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Automotivo e transporte microscópios
Nós, aqui na Leica, desejamos ser seu colaborador com o qual pode confiar, a fim de orientá-lo quanto às soluções ideais em captura e processamento de imagens, para que você possa estar à frente da…
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