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Leica EM TXP Sistema de preparação da superfície alvo

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Preparation of an IC-chip cross section: grinding and polishing of the chip cross section.

Cross-section Analysis for Electronics Manufacturing

This article describes cross-section analysis for electronics concerning quality control and failure analysis of printed circuit boards (PCBs) and assemblies (PCBAs), integrated circuits (ICs), etc.
Image of an integrated-circuit (IC) chip cross section acquired at higher magnification showing a region of interest.

Structural and Chemical Analysis of IC-Chip Cross Sections

This article shows how electronic IC-chip cross sections can be efficiently and reliably prepared and then analyzed, both visually and chemically at the microscale, with the EM TXP and DM6 M LIBS…
EBSD grain size distribution of the cross section of a gold wire within a silicon matrix from inside a CPU (central processing unit of a computer). The grains are highlighted with arbitrary colors.

High-Quality EBSD Sample Preparation

This article describes a method for EBSD sample preparation of challenging materials. The high-quality samples required for electron backscatter diffraction are prepared with broad ion-beam milling.
SEM image of the full Li-NMC electrode sample, showing the two porous layers and the metal film at the center of the structure.

Cross Section Ion Beam Milling of Battery Components

Sample Preparation of Lithium battery systems requires high quality surface preparation to evaluate their internal structure and morphology. Due to the brittle materials involved, preparing pristine…

Workflow Solutions for Sample Preparation Methods for Material Science

This brochure presents and explains appropriate workflow solutions for the most frequently required sample preparation methods for material science samples.
Microscopy Solutions for Battery Manufacturing

Battery Manufacturing

Battery manufacturing has several key challenges concerning inspection. Solutions for sample preparation and microscopic visual and chemical analysis are needed.

Campos de aplicação

Indústria de relojoaria

Para relojoeiros e na indústria de relógios, a precisão dos microscópios Leica facilita a montagem delicada de relógios e a inspeção confiável da alta qualidade e trabalho artesanal. Com nossos…

Automotivo e transporte microscópios

Nós, aqui na Leica, desejamos ser seu colaborador com o qual pode confiar, a fim de orientá-lo quanto às soluções ideais em captura e processamento de imagens, para que você possa estar à frente da…

Microscópios de análise de materiais

A análise de materiais requer soluções de microscopia para a aquisição de imagens, medição e análise de recursos em diversos materiais, como ligas metálicas, semicondutores, vidro e cerâmica, bem como…

Mercados de microscopia industrial

Maximizar o tempo de atividade e atingir as metas de forma eficiente ajuda seu resultado final. As soluções de microscópio Leica podem fornecer uma visão dos menores detalhes da amostra, bem como…

Análise de cortes transversais para componentes eletrônicos

A análise de cortes transversais para componentes eletrônicos permite uma análise detalhada dos mecanismos de falha de componentes, como placas de circuito impresso (PCBs), conjuntos (PCBAs) e…

Indústria de eletrônicos e semicondutores

Para eletrônicos e semicondutores, soluções que permitem a inspeção eficiente, análise de seção transversal e limpeza, além da P&D de PCBs, wafers, chips IC e baterias são cruciais.
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