Fluxos de trabalho de preparação de amostras EM & Aplicações
Os pesquisadores podem obter consistentemente resultados de alta qualidade, precisos e reprodutíveis ao obter imagens de amostras com microscopia eletrônica usando as soluções de preparação de amostras da Leica. Nossas soluções suportam microscopia eletrônica de varredura (SEM), microscopia eletrônica de transmissão (TEM) e crio EM.
Nossos especialistas em imagens estão aqui para ajudar com conselhos sobre soluções para fluxos de trabalho de preparação de amostras EM & Aplicações.
Como os pesquisadores podem preparar amostras para o MEV?
A preparação de amostras para MEV (microscopia eletrônica de varredura) envolve técnicas como recobrimento, secagem e substituição para garantir a geração ideal de imagens. Usando as soluções Leica para amostras de MEV, os pesquisadores melhoram a condutividade, reduzem os artefatos e garantem superfícies estáveis e de alta qualidade para a geração confiável de imagens de MEV em temperatura ambiente.
Quais são os melhores métodos para a preparação de amostras de TEM?
A preparação de amostras de TEM (microscopia eletrônica de transmissão) requer seções ultrafinas e sem danos, recobrimento por pulverização catódica de grades para EM e coloração para obter uma visualização detalhada da estrutura. Com a precisão e a confiabilidade dos instrumentos Leica, os pesquisadores podem produzir imagens TEM de alta resolução.
O que é importante para a preparação de amostras de crio-EM?
O Crio EM se beneficia da vitrificação por meio do congelamento rápido para manter as estruturas em seu estado natural.
As soluções de preparação de crio da Leica - incluindo vitrificação avançada, revestimento, seção ultrafina, planejamento de crio e fluxos de trabalho de transferência de crio e CLEM personalizáveis - fornecem amostras reprodutíveis e livres de contaminação. Eles ajudam a manter as estruturas nativas, proporcionam um direcionamento preciso e permitem a geração de imagens crio-EM de alta resolução.
Por que escolher os instrumentos e soluções Leica para a preparação de amostras EM?
Preparação de amostras de MEV
As ferramentas de preparação de SEM da Leica Microsystems incluem recobrimento de pulverização de alto vácuo e secadores de ponto crítico. Essas soluções garantem imagens de superfície de alta qualidade. Além disso, os instrumentos Leica fornecem resultados consistentes e confiáveis para seus estudos de MEV.
Preparação de amostras TEM
Os pesquisadores podem confiar nas soluções de preparação de TEM da Leica Microsystems para obter precisão e confiabilidade. Ferramentas essenciais, como ultramicrótomos e sistemas de coloração automatizados, ajudam a produzir seções ultrafinas e imagens de alta resolução. O recobrimento por pulverização aumenta a condutividade da amostra e a qualidade da imagem.
Preparação abrangente de crio-EM
Com os instrumentos de preparação de crio da Leica Microsystems, incluindo congeladores de imersão e congeladores de alta pressão, os pesquisadores garantem o congelamento e a vitrificação rápidos. Além disso, nosso sistema de transferência de amostras para fluxos de trabalho de crio oferece opções de transferência para todos os tipos de amostras. Essa opção os protege de contaminação, garantindo uma análise Crio-EM precisa e detalhada.
