Explorar de forma flexível

Obtenha percepções para análises de falhas e aplicações de P&D com uma solução versátil, o DVM6.

Investigue diversas amostras ininterruptamente

Mude fácil e rapidamente de macro para micro: Obtenha a visão geral de sua amostra e veja rapidamente os detalhes, graças à faixa de zoom de 16:1 e às três objetivas PlanApo parfocais. Veja detalhes com tamanhos a partir de 0,4 micrômetros.

Uma gama de imagens de aplicações capturadas com objetiva baixa, média e alta.

Encontre a objetiva mais adequada às suas necessidades

Objetiva de baixa ampliação: Ideal para visões gerais amplas, que ajudam você a pesquisar e encontrar regiões de interesse em sua amostra de maneira eficiente. Oferece um campo de visão (FOV) de 43,75 mm, uma longa distância de trabalho de até 60 mm e ampliações de até 190x.

Objetiva de média ampliação: Obtenha mais percepções de forma rápida e fácil para o seu trabalho diário. Apresenta um FOV máximo de 12,55 mm, uma distância de trabalho confortável de até 33 mm e uma faixa de ampliação de 46x a 675x.

Objetiva de alta ampliação: Veja mais detalhes finos de sua amostra com até 425 nm. Oferece um FOV com capacidade máxima de 3,60 mm e ampliação de até 2350x.

Configuração adaptável para diferentes amostras

Encontre a solução mais adequada às suas necessidades de aplicação e orçamento. Existem diferentes configurações do DVM6 disponíveis.

Diferentes configurações do DVM6

Se sua amostra for muito grande ou volumosa para as configurações padrão do DVM6, o DVM6 M modular oferece mais flexibilidade para uma ampla variedade de aplicações.

Com um adaptador de interface especial, o módulo de zoom do DVM6 M pode ser usado com suportes selecionados dos estereomicroscópios da série Leica M para amostras grandes (faixa máx. de deslocamento da platina: 150 x 100 mm) e amostras altas (até 340 mm).

DVM6 com objetiva de baixa ampliação, coluna de 420 mm e placa base universal XL.

Revele detalhes ocultos

Visualize amostras de diferentes ângulos

Observe sua amostra de diferentes ângulos, de -60° a +60°, com a função de inclinação do DVM6. Esse recurso ajuda você a ver os detalhes difíceis de encontrar.

Explore a amostra de diferentes perspectivas girando e movendo a platina para alcançar qualquer ponto dentro de uma faixa de deslocamento de 70 mm x 50 mm.

Veja mais estruturas de amostras

Revele mais detalhes combinando opções de iluminação e contraste de várias maneiras.

  • Visualize amostras com uma superfície texturizada usando um ou todos os quatro segmentos da iluminação com luz circular (RL).
  • Visualize amostras planas e refletivas com a iluminação coaxial (CXI).
  • Explore regiões difíceis de capturar, como por exemplo: orifícios e materiais transparentes, com a iluminação de luz transmitida (BLI).
  • Reduza a luz ofuscante em amostras refletivas, como superfícies de metal polido, com o adaptador do difusor.
  • Identifique contaminações devido às propriedades de seus diferentes materiais com o adaptador polarizador.
1: Capturada com objetiva de baixa ampliação e zoom de 10x. Sem BLI/com BLI
2: Capturada com objetiva de média ampliação e zoom de 1x. Iluminação com luz circular/adaptador de difusor/adaptador polarizador

Investigar suas amostras com facilidade

Mantenha o foco em seu trabalho graças a uma operação conveniente.

Obtenha imagens nítidas de forma simples

Todos os usuários podem criar imagens de alta qualidade com facilidade.

Comece imediatamente com a investigação de sua amostra aproveitando o foco automático do DVM6. O sistema de foco automático contínuo mantém a amostra em foco durante a navegação pela amostra. Ele é particularmente útil quando há áreas com diferentes alturas na amostra.

Basta deslizar uma objetiva diferente para alterar a ampliação quando os limites da faixa de zoom forem atingidos. Não é necessário refocalizar: a amostra permanece em foco com as objetivas parfocais.

O sistema de foco automático contínuo mantém a amostra em foco durante a navegação pela amostra.

Opere o sistema com uma mão

Troca de objetiva: Conecte e veja

Nem mesmo uma troca de objetiva interrompe seu trabalho, pois isso pode ser feito com uma mão.

Inclinação fácil

Mude prontamente a perspectiva ao adquirir imagens de suas amostras. A inclinação pode ser feita com apenas uma mão, pois não há um mecanismo separado de desbloqueio/bloqueio. Mesmo durante a inclinação, a amostra permanece sempre em foco, uma vez que o eixo de inclinação está alinhado com o ponto de foco.

A inclinação pode ser feita com apenas uma mão, pois não há um mecanismo separado de desbloqueio/bloqueio.

Confiar nos seus resultados

Melhore a confiabilidade dos resultados com condições de aquisição de imagens reproduzíveis.

Reproduza uma imagem em sua totalidade, pois todas as configurações do sistema são salvas com os dados da imagem e podem ser recuperadas. Isso ajuda você a obter resultados confiáveis ao realizar muitas tarefas para análise de falhas e pesquisa e desenvolvimento.

Caso o seu microscópio seja compartilhado entre vários operadores, as funções codificadas ajudam a garantir que cada usuário obtenha resultados comparáveis. Além disso, você pode verificar a confiabilidade das imagens adquiridas.

As objetivas são detectadas por sensores e codificadas juntamente com os componentes importantes do microscópio. Não há necessidade de indicar manualmente o tipo de objetiva durante a operação, o que economiza tempo e esforço.

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