DM3 XL
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Leica Microsystems
DM3 XL Sistema de inspeção para microeletrônica e semicondutores
Detecção rápida, ação rápida
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A velocidade é importante em inspeção, controle de processo e análise de falhas para a indústria microeletrônica e semicondutora. Quanto mais rápido se detectar um defeito, mais rápido você pode reagir.
30% mais campo de visão
Com um amplo campo de visão, o sistema de inspeção DM3 XL permite que sua equipe identifique defeitos mais rapidamente e aumente sua taxa de produção. Faça uso do campo de visão aumentado em 30% da objetiva macro exclusiva.
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