Medical Device Quality Assurance and Quality Control

Garantia e controle de qualidade de dispositivos médicos

Captura confiável de imagens e análises para suas questões de regulamentação (RA) e documentação QA/QC: Com as soluções de microscopia da Leica Microsystems, você pode confiar nos resultados de inspeções visuais e na documentação para seus dispositivos médicos.

A Leica Microsystems oferece soluções completas para inspeções visuais, que fornecem dados de imagens confiáveis. Identifique, analise, valide e documente defeitos com eficiência, como meio para obter conformidade com regulamentações relacionadas aos seus dispositivos médicos. Você pode se beneficiar dessas soluções, especialmente quando se trata de dispositivos médicos de uma classe de risco mais alta, II e III, como stents, implantes dentários, cateteres e muitos outros tipos de implante.

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Quality Assurance Improvement Across Industries

Precision is paramount. Imagine a pacemaker that fails mid-operation or a semiconductor flaw that causes a critical system crash. In industries, such as medical devices, electronics, and…

Radially grown sugar crystals which have been imaged with a Leica microscope using circular polarized light.

Polarizing Microscope Image Gallery

How polarization microscope images can be used for analysis is shown in this gallery. Polarized light microscopy (also known as polarizing microscopy) is an important method for different fields and…

Some 2D measurements, e.g., lengths and areas, made on a PCB sample with a Leica measurement microscope using the Enersight software.

How to Select the Right Measurement Microscope

With a measurement microscope, users can measure the size and dimensions of sample features in both 2D and 3D, something crucial for inspection, QC, failure analysis, and R&D. However, choosing the…

Example of calibrating a microscope at a higher magnification value using a stage micrometer.

Microscope Calibration for Measurements: Why and How You Should Do It

Microscope calibration ensures accurate and consistent measurements for inspection, quality control (QC), failure analysis, and research and development (R&D). Calibration steps are described in this…

Documentation of an automotive clutch friction surface with a digital microscope

Automotive Part Verification and Development according to Specifications

Automotive part verification during the development and production of parts and components by suppliers or manufacturers is important for ensuring that specifications are met. Specifications are…

Area of a printed circuit board (PCB) which was imaged with extended depth of field (EDOF) using digital microscopy.

Depth of Field in Microscope Images

For microscopy imaging, depth of field is an important parameter when needing sharp images of sample areas with structures having significant changes in depth. In practice, depth of field is…

Leitz Laborlux: Tartaric acids, polarization contrast

The Polarization Microscopy Principle

Polarization microscopy is routinely used in the material and earth sciences to identify materials and minerals on the basis of their characteristic refractive properties and colors. In biology,…

Image of magnetic steel taken with a 100x objective using Kerr microscopy. The magnetic domains in the grains appear in the image with lighter and darker patterns. A few domains are marked with red arrows. Courtesy of Florian Lang-Melzian, Robert Bosch GmbH, Germany.

Rapidly Visualizing Magnetic Domains in Steel with Kerr Microscopy

The rotation of polarized light after interaction with magnetic domains in a material, known as the Kerr effect, enables the investigation of magnetized samples with Kerr microscopy. It allows rapid…

Region of a patterned wafer inspected using optical microscopy and automated and reproducible DIC (differential interference contrast). With DIC users are able to visualize small height differences on the wafer surface more easily.

6-Inch Wafer Inspection Microscope for Reliably Observing Small Height Differences

A 6-inch wafer inspection microscope with automated and reproducible DIC (differential interference contrast) imaging, no matter the skill level of users, is described in this article. Manufacturing…

Optical microscope image, which is a composition of both brightfield and fluorescence illumination, showing organic contamination on a wafer surface. The inset images in the upper left corner show the brightfield image (above) and fluorescence image (below with dark background).

Visualizing Photoresist Residue and Organic Contamination on Wafers

As the scale of integrated circuits (ICs) on semiconductors passes below 10 nm, efficient detection of organic contamination, like photoresist residue, and defects during wafer inspection is becoming…

Microscópios de inspeção

Os microscópios de inspeção da Leica abrangem suas necessidades, seja para uma visão geral de um componente ou amostra ou para visualizar detalhes finos.

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Medição

Os microscópios de medição são úteis para determinar as dimensões de detalhes das amostras durante o controle de qualidade, análise de falhas e P&D. Saiba mais sobre os microscópios de medição da Leica.

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Inspeção para Montagem e Retrabalho

Obtenha precisão e velocidade para maximizar a produtividade e fornecer resultados de alta qualidade com todo o conforto, utilizando as soluções de microscópio ergonômico da Leica Microsystems. Com excelente qualidade óptica e amplo campo de visão, esses sistemas garantem o conforto do operador, ao mesmo tempo em que otimizam os fluxos de trabalho de montagem e retrabalho.

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Aplicações Industriais

O tempo de inatividade prejudica sua linha de produção. A Leica Microsystems pode ajudá-lo a evitar isso, fornecendo informações sobre os menores detalhes, identificar, documentar e criar relatórios de forma eficiente.

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