Para permitir e melhorar a obtenção de imagem das amostras no microscópio eletrônico, elas precisam ser condutoras. Uma gama de técnicas de revestimento pode ser aplicada, dependendo da amostra e de sua preparação para a análise. Desde revestimentos de baixo vácuo em temperatura ambiente até revestimentos de alto vácuo em temperatura criogênica, a Leica Microsystems abrange a mais completa gama de requisitos de revestimento.
Desde revestimentos de baixo vácuo em temperatura ambiente até revestimentos de alto vácuo em temperatura criogênica!
Em contato com um especialista para ajudar a simplificar o preparação de amostra para microscopia eletrônica.
Sistemas para revestimento, gravação e fratura 3

Leica EM ACE200
Dispositivo de revestimento a baixo vácuo

Leica EM ACE600
Revestimento a alto vácuo

Leica EM ACE900
Sistema de preparação de amostras de ponta de fratura por congelamento
Revestimento
O revestimento pela criação de uma camada condutora de metal na amostra inibe o acúmulo de carga, reduz o dano térmico e melhora o sinal do elétron secundário, necessário para a avaliação topográfica no SEM. A linha de sistemas de revestimento da Leica Microsystems compreende o sistema de deposição de película a alto vácuo Leica EM ACE600 para análises de alta resolução em FE-SEM e TEM e o sistema de revestimento por pulverização e/ou fio de carbono Leica EM ACE200 como um sistema completamente automatizado para o manuseio rápido, conveniente e intuitivo.
Gravação por congelamento
A gravação por congelamento pode ser obtida após a fratura e fornece mais informações das faces fraturadas pela sublimação sob vácuo das camadas de gelo para expor os elementos celulares que estavam originalmente escondidos. Como um instrumento altamente versátil, o sistema de revestimento criogênico Leica EM ACE900 oferece os melhores resultados para as técnicas de fratura por congelamento e gravação por congelamento para as análises TEM e Cryo SEM.
Fratura por congelamento
Para revelar estruturas internas de uma amostra congelada, pode-se quebrá-la fisicamente para expor as estruturas internas para a análise com microscópio eletrônico. O sistema de revestimento criogênico Leica EM ACE900 eleva a técnica de fratura por congelamento a um novo patamar, com um avançado micrótomo, opções de sombreamento flexíveis com fontes de feixe de elétrons, um estágio criogênico rotativo e um sistema de transferência “carrega-e-trava”. Análises de alta resolução de réplicas no TEM, equipado com o EM VCT500 e a obtenção de imagem da face do bloco no Cryo SEM são resultados dessa técnica. O Leica EM ACE600, equipado com um estágio criogênico e uma conexão VCT500, fornece a solução para fratura por congelamento para refletir a imagem da superfície revelada no Cryo SEM.