06 May 2021

Surmonter le critère de résolution

06 May 09:00 UTC

online, France

Webinar

Comment améliorer vos performances d’inspection de composants microélectroniques

Vous travaillez dans la production de semi-conducteurs ou de composants microélectroniques ? Vous voulez en voir davantage lors de l’inspection de plaquettes de silicium ou de microsystèmes électromécaniques ? Vous aimeriez avoir des images d’échantillons incroyablement nettes et détaillées que seuls les microscopes électroniques peuvent fournir ?

Alors rejoignez notre webinaire gratuit pour en savoir plus sur les techniques d’imagerie et de contraste puissantes qui peuvent modifier considérablement vos performances d’inspection. Sur la base d’exemples réels de clients, notre expert Michael Doppler vous montrera comment surmonter le critère de résolution pour atteindre les résultats d’inspection que vous visez, sans immersion dans l’huile ni transfert vers un microscope électronique à balayage/réflexion. Pendant la session de questions-réponses en direct, vous aurez la possibilité de présenter votre cas et vos questions.

Si vous ne pouvez pas assister au webinaire en direct mais que vous êtes toujours intéressé(e) par le sujet, ne vous inquiétez pas. Inscrivez-vous et nous vous enverrons le lien vers l’événement enregistré afin de pouvoir le regarder à tout moment.