10 May 2021

Überlisten Sie die Auflösungsgrenze

10 May 09:00 UTC

online, Germany

Webinar

Wie Sie Ihre Leistung bei der Inspektion mikroelektronischer Komponenten verbessern

Arbeiten Sie in der Halbleiter- oder Mikroelektronikproduktion? Müssen Sie mehr erkennen bei der Inspektion von Siliziumwafern oder MEMS? Suchen Sie die unglaublich scharfen und detaillierten Bilder Ihrer Proben, die nur Elektronenmikroskope liefern können?

Dann sollten Sie an unserem kostenlosen Webinar teilnehmen, um mehr über leistungsstarke Bildgebungs- und Kontrasttechniken zu erfahren, die Ihre Inspektionsleistung erheblich verbessern können. Anhand realer Proben zeigt Ihnen unser Experte Michael Doppler, wie Sie die Auflösungsgrenze überlisten können, um die von Ihnen angestrebten Inspektionsergebnisse zu erreichen – ohne Immersionsöl oder den Wechsel zu einem REM. In der Live-Fragerunde haben Sie zudem die Möglichkeit, Ihre Anforderungen und Fragen mit unserem Experten zu besprechen.

Wenn Sie nicht am Live-Webinar teilnehmen können, aber dennoch an dem Thema interessiert sind, müssen Sie trotzdem nichts verpassen. Melden Sie sich an und wir senden Ihnen den Link zur Aufzeichnung des Webinars im Anschluss zu.