Leica EM BAF060 Soluciones de recubrimiento con pulverización catódica y crío-fractura Preparación de muestras de ME Productos Inicio Leica Microsystems

El sistema Leica EM BAF060 es un sistema avanzado de preparación de muestras por criofractura, grabado y liofilización de recubrimientos mixtos de carbono/metal de doble réplica y alta resolución para análisis de TEM y SEM.

Si se utiliza conjuntamente con el sistema Leica EM VCT100, podrá llevar a cabo las tareas siguientes: replicación de muestras mediante evaporación con haz de electrones, recubrimiento de doble capa de muestras para análisis crio-SEM y criorrecubrimiento para crio-SEM.

El sistema Leica EM BAF060 cuenta con un microtomo avanzado, opciones de sombreado flexibles con dos fuentes de haces de electrones independientes y un sistema de transferencia con precámara.

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Sistema Leica BAF060 de criofractura