Leica DM12000 M
Microscopes droits
Microscopie optique
Produits
Accueil
Leica Microsystems
Leica DM12000 M Contrôle de précision de 12 po et système de révision
Lire nos derniers articles
How to Boost your Microelectronic Component Inspection Performance
Do you need to see more when inspecting silicon wafers or MEMS? Would you like to get sharp and detailed sample images which are similar to those from electron microscopes?
Watch this free webinar…
Domaines d'application
Production de wafers semiconducteurs
Leica Microsystems’ customized, modular imaging solutions help suppliers and device manufacturers achieve fast and precise inspection and analysis for wafer processing, IC packaging, IC assembly, and…
Marchés de la microscopie industrielle
L'optimisation du temps de fonctionnement et la réalisation efficace des objectifs contribuent à votre résultat net. Les solutions de microscopie de Leica peuvent vous donner un aperçu des plus petits…