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Electron Microscope Sample Preparation
Product AreaPréparation d’échantillons pour MET/MEB

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Préparation d’échantillon pour la microscopie électronique

Les résultats exceptionnels, les performances extraordinaires et les découvertes capitales ont un point commun : une préparation précise et minutieuse. Dans le domaine de la microscopie électronique en particulier, la préparation parfaite des échantillons est une condition préalable et une étape cruciale.

Préparez-vous… à des résultats exceptionnels !

Leica Microsystems offre le portefeuille de produits le plus complet pour la préparation des échantillons biologiques, médicaux et industriels. En nous concentrant sur les solutions de gestion des flux de travail, nous fournissons une gamme de produits qui répond parfaitement à tous vos besoins pour une préparation précise des échantillons lors des examens réalisés en microscopie électronique en transmission (MET/TEM), microscopie électronique à balayage (MEB/SEM), et microscopie à force atomique (AFM). Chaque solution Leica consiste en plusieurs instruments qui fonctionnent en parfaite harmonie, afin d'obtenir pour votre échantillon un flux de travail homogène.

Une préparation parfaite fait la différence entre la tentative et la réalisation, l'échec et le succès, des résultats et d'excellents résultats. Alors, préparez-vous à obtenir avec Leica Microsystems des résultats exceptionnels !

Pourriez-vous être plus précis ?

Préparation d’échantillon pour la microscopie électronique 17

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Système de cryosubstitution et d’inclusion à basse température pour la microscopie photonique et électronique

Système de fraisage/découpe des échantillons pharmaceutiques EM RAPID

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L'appareil de coupe d'échantillon Leica EM TRIM2 pour les applications MET, MEB, MO

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L’automate de contraste pour coupes ultrafines Leica AC20

Leica EM AC20

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Système mécanique de surfaçage et ciblage Leica EM TXP

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Système mécanique de surfaçage et ciblage

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Cross Section Surface

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