DM3 XL
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Leica Microsystems
DM3 XL El sistema de inspección para la microelectrónica y los semiconductores
Detección rápida, acción rápida
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La velocidad importa en la inspección, el control de procesos o el análisis de defectos y fallos en la industria de la microelectrónica y los semiconductores. Cuanto más rápido detecte un defecto, más rápido podrá reaccionar.
30 % más de campo visual
Con un gran campo visual, el sistema de inspección DM3 XL permite a su equipo identificar defectos más rápidamente y aumentar su tasa de rendimiento. Haga uso del campo visual aumentado un 30 % del exclusivo objetivo macro.
