
Observé sous toutes les coutures
Quand il s'agit d'observer des structures minuscules uniquement sur des surfaces d'échantillons inclinées ou verticales, les microscopes conventionnels se heurtent à leurs propres limites. Pour les microscopes numériques Leica Microsystems en revanche, même les zones d'échantillons auxquelles il était impossible d'accéder jusqu'à présent ne posent plus aucun problème. Le statif inclinable extrêmement flexible combiné à la platine rotative xy permet un contrôle et une analyse fiables de toutes les soudures des composants électroniques par exemple.
La fonction HDR et anti-halo réduit significativement les reflets et l'éblouissement pour obtenir une documentation détaillée.
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La fonction de visualisation 3D peut être utilisée pour observer une image tridimensionnelle de l'échantillon. La fonction mesure de surface analyse la structure de surface et fournit les informations de longueur, d'angle et de hauteur.
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