XL Stand Statif modulaire permettant le contrôle de grands échantillons à de forts grossissements stéréoscopiques
Le statif Leica XL, solution modulaire , permet le contrôle de grands échantillons à de forts grossissements stéréoscopiques dans les applications de contrôle de circuits imprimés, de traces d'outil dans les expertises judiciaires ou d'examen de documentations et de contrôle TFT/LCD.
La platine XY (optionnelle) intègre un tapis ESD spécial à raccord encliquetable, qui combiné au grand socle, permet de mettre le système à la masse afin d'éviter toute détérioration des composants électroniques par des décharges ESD. La platine XY (optionnelle) peut recevoir les échantillons de grande taille, jusqu'à 400 X 450 mm et les platines à course de 300 X 300 mm permettent de manipuler des échantillons jusqu'à 12'' X 12'', ainsi des documents de format A4 peuvent être contrôlés en une seule fois sans repositionnement.
Caractéristiques principales
Peut recevoir de grands échantillons
Rallonge XL – peut recevoir de grands échantillons dont la profondeur peut atteindre 360 mm.
Déplacement de grands échantillons
La platine XY optionnelle présente une course de 300 x 300 mm permettant de déplacer des grands échantillons jusqu'à 12'' X 12'', par exemple des circuits imprimés.
Composants électroniques sensibles
Socle universel à 2 connecteurs - tapis d'isolation ESD pour minimiser les détériorations des composants électroniques sensibles par des décharges ESD.
Réglage fin
Platine XY optionnelle : réglage fin – facilite la manipulation en présence de forts grossissements grâce à la précision supérieure.
