Flujos de trabajo de preparación de muestras EM & Usos
Los investigadores pueden obtener resultados de alta calidad, precisos y reproducibles al obtener imágenes de muestras con microscopía electrónica utilizando las propuestas de preparación de muestras de Leica. Nuestras soluciones admiten microscopía electrónica de barrido (SEM), microscopía electrónica de transmisión (TEM) y criomicroscopía electrónica.
Nuestros expertos en la materia están a su disposición para asesorarle sobre soluciones para flujos de trabajo de preparación de muestras EM & Uses.
¿Cómo pueden los investigadores preparar las muestras para el SEM?
La preparación de muestras para SEM (microscopía electrónica de barrido) implica técnicas como el recubrimiento, el secado y la inclusión en resina para garantizar una imagen óptima. Utilizando las soluciones de Leica para muestras de SEM, los investigadores mejoran la conductividad, reducen los artefactos y garantizan superficies estables y de alta calidad para obtener imágenes de SEM reproducibles a temperatura ambiente.
¿Qué métodos son los mejores para la preparación de muestras de TEM?
La preparación de muestras para el TEM (microscopía electrónica de transmisión) requiere cortes ultrafinos y sin artefactos, recubrimientos de rejillas de TEM y tinción para lograr una visualización detallada de las estructuras. Con la precisión y fiabilidad de los instrumentos de Leica, los investigadores pueden obtener imágenes TEM de alta resolución.
¿Qué es importante para la preparación de muestras criogénicas?
Cryo EM se beneficia de la vitrificación o crío-fijación rápida para mantener las estructuras en su estado nativo.
Las soluciones de criopreparación de Leica -incluida la vitrificación avanzada, el recubrimiento, el corte ultrafino, el aplanado criogénico y los flujos de trabajo personalizables de criotransferencia y correlativa - proporcionan muestras reproducibles y libres de contaminación. Ayudan a mantener las estructuras nativas, proporcionan una orientación precisa y permiten la obtención de imágenes criogénicas de alta resolución.
¿Por qué elegir instrumentos y soluciones de Leica para la preparación de muestras EM?
Preparación de muestras de SEM
Las herramientas de preparación de SEM de Leica Microsystems incluyen recubridores sputter de alto vacío y secadores de punto crítico. Estas soluciones garantizan una imagen de las superficies de alta calidad. Además, los instrumentos Leica proporcionan resultados consistentes y fiables para sus estudios de SEM.
Preparación de muestras de TEM
Los investigadores pueden confiar en las soluciones de preparación de TEM de Leica Microsystems por su precisión y fiabilidad. Herramientas esenciales como los ultramicrotomos y los sistemas automatizados de tinción ayudan a producir cortes ultrafinos e imágenes de alta resolución. El recubrimiento por pulverización catódica mejora la conductividad de la muestra y la calidad de la imagen.
Preparación completa de Cryo-EM
Con los instrumentos de criopreparación de Leica Microsystems, incluidos los vitrificadores por inmersión y los vitrificadores de alta presión, los investigadores garantizan una congelación y vitrificación rápidas. Además, nuestro sistema de transferencia de muestras para flujos de trabajo criogénicos ofrece opciones de transferencia para todo tipo de muestras. Esta opción las protege de la contaminación, garantizando un análisis crio-EM preciso y detallado.
