Leica EM RES102 Fresado con haz de iones Preparación de muestras de ME Productos Inicio Leica Leica Microsystems

Preparación mediante TEM o SEM, cuestión de gustos

Para la compatibilidad con un diverso abanico de aplicaciones, Leica EM RES102 se puede equipar con una gran variedad de portamuestras para la preparación mediante TEM, SEM y LM. El sistema de bloqueo de carga garantiza el alto rendimiento de la muestra y el cambio de muestra rápido.

SEM

SEM

Portamuestras para mejorar la limpieza, el pulido y el contraste de muestras de SEM y LM a temperatura ambiente o con refrigeración mediante LN2. El soporte para SEM permite preparar muestras de hasta 25 mm de diámetro. Se suministra un adaptador para sujetar puntas comerciales de SEM con clavija de 3,1 mm de diámetro.

SEM

SEM

Soporte cortador de plano inclinado para la producción de secciones transversales (90°) y anguladas (35°) para la investigación mediante SEM de muestras de estructura vertical. Las muestras se pueden preparar a temperatura ambiente o con refrigeración mediante LN2.

SEM

SEM

Soporte de sujeción para SEM para muestras pequeñas, de 5 (altura) x 7 (ancho) x 2 (diámetro) mm como máximo. Este soporte se transfiere fácilmente al SEM sin tener que extraer la muestra.

TEM

TEM

Portamuestras (soporte de sujeción rápida) para el fresado por un lado o por los dos de ángulos reducidos, hasta 4°.

TEM

TEM

Soporte refrigerador para la preparación de muestras sensibles a la temperatura en combinación con el dispositivo de refrigeración mediante LN2.

FIB

FIB

Soporte de limpieza que sirve para reducir la capa amorfizada de las muestras de FIB.