Sistema de fresado con haz de iones Leica EM RES102
Preparación mediante TEM o SEM, cuestión de gustos
Para la compatibilidad con un diverso abanico de aplicaciones, Leica EM RES102 se puede equipar con una gran variedad de portamuestras para la preparación mediante TEM, SEM y LM. El sistema de bloqueo de carga garantiza el alto rendimiento de la muestra y el cambio de muestra rápido.

SEM
Portamuestras para mejorar la limpieza, el pulido y el contraste de muestras de SEM y LM a temperatura ambiente o con refrigeración mediante LN2. El soporte para SEM permite preparar muestras de hasta 25 mm de diámetro. Se suministra un adaptador para sujetar puntas comerciales de SEM con clavija de 3,1 mm de diámetro.