EM RES102
Fresado con haz de iones
Preparación de muestras de ME
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Leica Microsystems
EM RES102 Sistema de fresado con haz de iones
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Consiga planos inclinados finos, limpios, desbastados y cortados, y prepare las muestras con la máxima flexibilidad gracias al sistema Leica EM RES102. El exclusivo sistema de fresado por iones combina la preparación de muestras para TEM, SEM y LM en una sola unidad de sobremesa.
Los diferentes tipos de portamuestras permiten llevar a cabo una amplia gama de aplicaciones. Además del fresado por iones de alta energía, el sistema Leica EM RES102 también puede utilizarse para el procesamiento de muestras extremadamente delicadas con haces de iones de baja energía.
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